【APIC】商标详情
- APIC
- 82465539
- 已注册
- 普通商标
- 2024-12-10
4209 , 4212 , 4214 , 4220 , 4227 -为检测的不监控计算机系统,
4209-为他人研究和开发新产品,
4209-技术研究,
4209-校准（测量）,
4209-质量控制,
4209-质量检测,
4209-质量评估,
4212-生物学研究,
4214-材料测试,
4220-为检测故障监控计算机系统,
4220-计算机软件设计,
4220-量子计算,
4227-科学显微镜的出租
-为检测的不监控计算机系统;4209-为他人研究和开发新产品;4209-技术研究;4209-校准（测量）;4209-质量控制;4209-质量检测;4209-质量评估;4212-生物学研究;4214-材料测试;4220-为检测故障监控计算机系统;4220-计算机软件设计;4220-量子计算;4227-科学显微镜的出租 - 1937
- 2025-05-27
- 1949
- 2025-08-28
- 2025-08-28-2035-08-27
- 超微半导体设备(上海)有限公司
- 上海市上海市************
- 北京市盈科律师事务所
2025-09-22 商标注册申请 | 注册证发文
2025-05-16 商标注册申请 | 等待驳回复审
2025-03-21 商标注册申请 | 驳回通知发文
2025-02-07 商标注册申请 | 受理通知书发文
2025-01-11 商标注册申请 | 补正通知发文
2024-12-10 商标注册申请 | 申请收文
2024-12-10 00:00:00 商标注册申请 | 申请收文
- APIC
- 82465539
- 已注册
- 普通商标
- 2024-12-10
4209 , 4212 , 4214 , 4220 , 4227 -为检测的不监控计算机系统,
4209-为他人研究和开发新产品,
4209-技术研究,
4209-校准（测量）,
4209-质量控制,
4209-质量检测,
4209-质量评估,
4212-生物学研究,
4214-材料测试,
4220-为检测故障监控计算机系统,
4220-计算机软件设计,
4220-量子计算,
4227-科学显微镜的出租
-为检测的不监控计算机系统;4209-为他人研究和开发新产品;4209-技术研究;4209-校准（测量）;4209-质量控制;4209-质量检测;4209-质量评估;4212-生物学研究;4214-材料测试;4220-为检测故障监控计算机系统;4220-计算机软件设计;4220-量子计算;4227-科学显微镜的出租 - 1937
- 2025-05-27
- 1949
- 2025-08-28
- 2025-08-28-2035-08-27
- 超微半导体设备(上海)有限公司
- 上海市上海市************
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2025-05-16 商标注册申请 | 等待驳回复审
2025-03-21 商标注册申请 | 驳回通知发文
2025-02-07 商标注册申请 | 受理通知书发文
2025-01-11 商标注册申请 | 补正通知发文
2024-12-10 商标注册申请 | 申请收文
2024-12-10 00:00:00 商标注册申请 | 申请收文
