
【SPINSAM】商标详情

- SPINSAM
- 70648756
- 已注册
- 普通商标
- 2023-04-03
0901 , 0910 , 0911 -使用声学显微镜和声学微成像的检测设备(用于微电子、微机电系统和半导体中可能存在的缺陷的无损检测和分析的),
-声学微成像设备(用于测试微电子、微机电系统和半导体的),
-声学检查和分析仪器(用于半导体的物理检查和分析的),
-声学检查和分析仪器(用于微机电系统的物理检查和分析的),
-声学检查和分析仪器(用于微电子的物理检查和分析的),
-超声波扫描显微镜的替换配件,
0901-图像扫描仪,
0910-半导体探测器,
0910-半导体晶片的声学检测装置,
0910-半导体测试设备,
0910-声学测量仪表,
0910-材料测试仪器和机器,
0910-非医用电子测试设备(用于测试微电子、微机电系统和半导体晶片的物理完整性的),
0911-声学显微镜(用于测试微电子、微机电系统和半导体的),
0911-超声波扫描显微镜
-使用声学显微镜和声学微成像的检测设备(用于微电子、微机电系统和半导体中可能存在的缺陷的无损检测和分析的);-声学微成像设备(用于测试微电子、微机电系统和半导体的);-声学检查和分析仪器(用于半导体的物理检查和分析的);-声学检查和分析仪器(用于微机电系统的物理检查和分析的);-声学检查和分析仪器(用于微电子的物理检查和分析的);-超声波扫描显微镜的替换配件;0901-图像扫描仪;0910-半导体探测器;0910-半导体晶片的声学检测装置;0910-半导体测试设备;0910-声学测量仪表;0910-材料测试仪器和机器;0910-非医用电子测试设备(用于测试微电子、微机电系统和半导体晶片的物理完整性的);0911-声学显微镜(用于测试微电子、微机电系统和半导体的);0911-超声波扫描显微镜 - 1848
- 2023-07-20
- 1860
- 2023-10-21
- 2023-10-21-2033-10-20
- 诺信公司
- 俄亥俄索伦************
- 中国贸促会专利商标事务所有限公司
2023-12-11 变更商标代理人 | 核准通知打印发送
2023-11-21 变更商标代理人 | 申请收文
2023-11-15 商标注册申请 | 注册证发文
2023-06-27 商标注册申请 | 受 理通知书发文
2023-04-19 商标注册申请 | 补正通知发文
2023-04-03 商标注册申请 | 申请收文
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0901 , 0910 , 0911 -使用声学显微镜和声学微成像的检测设备(用于微电子、微机电系统和半导体中可能存在的缺陷的无损检测和分析的),
-声学微成像设备(用于测试微电子、微机电系统和半导体的),
-声学检查和分析仪器(用于半导体的物理检查和分析的),
-声学检查和分析仪器(用于微机电系统的物理检查和分析的),
-声学检查和分析仪器(用于微电子的物理检查和分析的),
-超声波扫描显微镜的替换配件,
0901-图像扫描仪,
0910-半导体探测器,
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0910-半导体测试设备,
0910-声学测量仪表,
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0910-非医用电子测试设备(用于测试微电子、微机电系统和半导体晶片的物理完整性的),
0911-声学显微镜(用于测试微电子、微机电系统和半导体的),
0911-超声波扫描显微镜
-使用声学显微镜和声学微成像的检测设备(用于微电子、微机电系统和半导体中可能存在的缺陷的无损检测和分析的);-声学微成像设备(用于测试微电子、微机电系统和半导体的);-声学检查和分析仪器(用于半导体的物理检查和分析的);-声学检查和分析仪器(用于微机电系统的物理检查和分析的);-声学检查和分析仪器(用于微电子的物理检查和分析的);-超声波扫描显微镜的替换配件;0901-图像扫描仪;0910-半导体探测器;0910-半导体晶片的声学检测装置;0910-半导体测试设备;0910-声学测量仪表;0910-材料测试仪器和机器;0910-非医用电子测试设备(用于测试微电子、微机电系统和半导体晶片的物理完整性的);0911-声学显微镜(用于测试微电子、微机电系统和半导体的);0911-超声波扫描显微镜 - 1848
- 2023-07-20
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- 2023-10-21
- 2023-10-21-2033-10-20
- 诺信公司
- 俄亥俄索伦************
- 中国贸促会专利商标事务所有限公司
2023-12-11 变更商标代理人 | 核准通知打印发送
2023-11-21 变更商标代理人 | 申请收文
2023-11-15 商标注册申请 | 注册证发文
2023-06-27 商标注册申请 | 受理通知书发文
2023-04-19 商标注册申请 | 补正通知发文
2023-04-03 商标注册申请 | 申请收文
