【MPM】商标详情
- MPM
- G1782269
- 待审中
- 普通商标
- 2024-03-28
0910 , 0911 0910-半导体光掩模相移测量装置,
0910-半导体光掩模透射率测量装置,
0910-半导体材料和元件检测设备,
0910-半导体检测机器和仪器,
0910-探测器,
0910-材料检验仪器和机器,
0910-测量装置,
0910-用于测量半导体光掩模相移量的设备和仪器,
0910-精密测量仪器,
0910-非医用测试仪,
0911-电子显微镜
0910-半导体光掩模相移测量装置;0910-半导体光掩模透射率测量装置;0910-半导体材料和元件检测设备;0910-半导体检测机器和仪器;0910-探测器;0910-材料检验仪器和机器;0910-测量装置;0910-用于测量半导体光掩模相移量的设备和仪器;0910-精密测量仪器;0910-非医用测试仪;0911-电子显微镜 - 2024-01-30-2034-01-30
- LASERTEC CORPORATION
- 神奈川横滨************
2024-08-02 领土延伸 | 驳回电子发文
2024-03-28 领土延伸 | 申请 收文
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- G1782269
- 待审中
- 普通商标
- 2024-03-28
0910 , 0911 0910-半导体光掩模相移测量装置,
0910-半导体光掩模透射率测量装置,
0910-半导体材料和元件检测设备,
0910-半导体检测机器和仪器,
0910-探测器,
0910-材料检验仪器和机器,
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0910-用于测量半导体光掩模相移量的设备和仪器,
0910-精密测量仪器,
0910-非医用测试仪,
0911-电子显微镜
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2024-03-28 领土延伸 | 申请收文