
【UTESTATE】商标详情

- UTESTATE
- 80487175
- 已注册
- 普通商标
- 2024-08-21
0901 , 0910 , 0913 0901-处理半导体晶片用计算机软件,
0910-半导体检测机,
0910-半导体测试用探针,
0910-半导体测试设备,
0910-计量仪表,
0913-光学半导体,
0913-功率半导体构件,
0913-半导体,
0913-半导体器件,
0913-电子半导体
0901-处理半导体晶片用计算机软件;0910-半导体检测机;0910-半导体测试用探针;0910-半导体测试设备;0910-计量仪表;0913-光学半导体;0913-功率半导体构件;0913-半导体;0913-半导体器件;0913-电子半导体 - 1956
- 2025-10-20
- 1968
- 2026-01-21
- 2026-01-21-2036-01-20
- 安徽创芯优测电子有限公司
- 安徽省合肥市************
- 北京神灯智谷知识产权代理有限公司
2025-06-11 驳回复审 | 实审裁文发文
2025-01-17 驳回复审 | 申请收文
2025-01-15 驳回复审 | 申请收文
2024-12-26 商标注册申请 | 驳回通知发文
2024-09-05 商标注册申请 | 受理通知书发文
2024-08-21 商标注册申请 | 申请收文
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- 80487175
- 已注册
- 普通商标
- 2024-08-21
0901 , 0910 , 0913 0901-处理半导体晶片用计算机软件,
0910-半导体检测机,
0910-半导体测试用探针,
0910-半导体测试设备,
0910-计量仪表,
0913-光学半导体,
0913-功率半导体构件,
0913-半导体,
0913-半导体器件,
0913-电子半导体
0901-处理半导体晶片用计算机软件;0910-半导体检测机;0910-半导体测试用探针;0910-半导体测试设备;0910-计量仪表;0913-光学半导体;0913-功率半导体构件;0913-半导体;0913-半导体器件;0913-电子半导体 - 1956
- 2025-10-20
- 1968
- 2026-01-21
- 2026-01-21-2036-01-20
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2024-09-05 商标注册申请 | 受理通知书发文
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