
【Z PROBE】商标详情

- Z PROBE
- 18804461
- 已注册
- 普通商标
- 2016-01-06
0910 0910-电子信号测量用探测器,
0910-集成电路、半导体器件和射频功率设备测试用探测器,
0910-集成电路晶片上探测用波导探测器,
0910-集成电路测试用探测器
0910-电子信号测量用探测器;0910-集成电路、半导体器件和射频功率设备测试用探测器;0910-集成电路晶片上探测用波导探测器;0910-集成电路测试用探测器 - 1527
- 2016-11-13
- 1539
- 2017-02-14
- 2017-02-14-2027-02-13
- 卡斯克得科技公司
- 俄勒冈比弗顿************
- 永新专利商标代理有限公司
2017-04-01 商标注册申请 | 注册证发文
2016-05-24 商标注册申请 | 受理通知书发文
2016-01-06 商标注册申请 | 申请收文
- Z PROBE
- 18804461
- 已注册
- 普通商标
- 2016-01-06
0910 0910-电子信号测量用探测器,
0910-集成电路、半导体器件和射频功率设备测试用探测器,
0910-集成电路晶片上探测用波导探测器,
0910-集成电路测试用探测器
0910-电子信号测量用探测器;0910-集成电路、半导体器件和射频功率设备测试用探测器;0910-集成电路晶片上探测用波导探测器;0910-集成电路测试用探测器 - 1527
- 2016-11-13
- 1539
- 2017-02-14
- 2017-02-14-2027-02-13
- 卡斯克得 科技公司
- 俄勒冈比弗顿************
- 永新专利商标代理有限公司
2017-04-01 商标注册申请 | 注册证发文
2016-05-24 商标注册申请 | 受理通知书发文
2016-01-06 商标注册申请 | 申请收文


