【PATTERN-TO-PATTERN INSPECTION】商标详情
- PATTERN-TO-PATTERN INSPECTION
- 76897200
- 待审中
- 普通商标
- 2024-02-21
0744 0744-制造用半导体曝光设备,
0744-半导体制造机,
0744-半导体制造用光刻机,
0744-半导体制造设备,
0744-半导体晶片加工机,
0744-半导体晶片处理设备,
0744-半导体芯片制造设备,
0744-电子元件制造设备,
0744-电子工业设备,
0744-集成电路制造机械（电子工业设备）
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- 北京市北京市************
- 深圳市智财家法务咨询有限公司
2024-07-17 商标注册申请 | 等待驳回复审
2024-05-23 商标注册申请 | 驳回通知发文
2024-03-25 商标注册申请 | 受理通知书发文
2024-02-21 商标注册申请 | 申请收文
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