【IVISION】商标详情
- IVISION
- G1619633
- 待审中
- 普通商标
- 2021-10-14
0910 0910-用于生产半导体、化合物半导体、功率器件、射频、微机电系统、发光二极管和集成电路的测量套刻精度以及特征关键尺寸的基于图像的测量系统
0910-用于生产半导体、化合物半导体、功率器件、射频、微机电系统、发光二极管和集成电路的测量套刻精度以及特征关键尺寸的基于图像的测量系统 - ONTO INNOVATION INC.
- 特拉华威尔明顿************
2023-10-09 国际注销 | 申请收文
2022-05-11 领土延伸 | 等待驳回电子发文
2022-05-11 领土延伸 | 驳回电子发文
2021-10-14 商标注册申请 | 申请收文
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0910 0910-用于生产半导体、化合物半导体、功率器件、射频、微机电系统、发光二极管和集成电路的测量套刻精度以及特征关键尺寸的基于图像的测量系统
0910-用于生产半导体、化合物半导体、功率器件、射频、微机电系统、发光二极管和集成电路的测量套刻精度以及特征关键尺寸的基于图像的 测量系统 - ONTO INNOVATION INC.
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