【SHIBO】商标详情
- SHIBO
- 90135848
- 待审中
- 普通商标
- 2026-02-07
4209 , 4214 4209-3D光学测量技术研究,
4209-光学组件的设计,
4209-半导体设计,
4209-技术开发领域 的咨询服务,
4209-量子精密测量领域的研究,
4209-集成电路的设计,
4214-设备和仪器的功能测试
4209-3D光学测量技术研究;4209-光学组件的设计;4209-半导体设计;4209-技术开发领域的咨询服务;4209-量子精密测量领域的研究;4209-集成电路的设计;4214-设备和仪器的功能测试 - 深圳市轼博科技有限公司
- 广东省深圳市************
2026-09-22 商标注册申请 | 初步审定公告通知书发文
2026-09-20 商标注册申请 | 排版初审公告
2026-07-16 商标注册申请 | 驳回通知书发文
2026-03-19 商标注册申请 | 受理通知书发文
2026-02-07 商标注册申请 | 申请收文
商标初步审定公告 2026-09-20 第2000期 查看公告
- SHIBO
- 90135848
- 待审中
- 普通商标
- 2026-02-07
4209 , 4214 4209-3D光学测量技术研究,
4209-光学组件的设计,
4209-半导体设计,
4209-技术开发领域的咨询服务,
4209-量子精密测量领域的研究,
4209-集成电路的设计,
4214-设备和仪器的功能测试
4209-3D光学测量技术研究;4209-光学组件的设计;4209-半导体设计;4209-技术开发领域的咨询服务;4209-量子精密测量领域的研究;4209-集成电路的设计;4214-设备和仪器的功能测试 - 深圳市轼博科技有限公司
- 广东省深圳市************
2026-09-22 商标注册申请 | 初步审定公告通知书发文
2026-09-20 商标注册申请 | 排版初审公告
2026-07-16 商标注册申请 | 驳回通知书发文
2026-03-19 商标注册申请 | 受理通知书发文
2026-02-07 商标注册申请 | 申请收文
商标初步审定公告 2026-09-20 第2000期 查看公告
