【DENSE】商标详情
- DENSE
- 3235321
- 已销亡
- 普通商标
- 2002-07-08
4207 , 4209 , 4214 4207-技术许可,
4209-微波集成电路、光子集成电路和光子装置的包装设计服务,
4209-微波集成电路、光子集成电路和光子装置的设计服务,
4209-科学研究,
4214-微波集成电路、光子集成电路和光子装置属性的测试服务,
4214-微波集成电路、光子集成电路和光子装置的性能测定服务,
4214-微波集成电路、光子集成电路和光子装置的测试服务
4207-技术许可;4209-微波集成电路、光子集成电路和光子装置的包装设计服务;4209-微波集成 电路、光子集成电路和光子装置的设计服务;4209-科学研究;4214-微波集成电路、光子集成电路和光子装置属性的测试服务;4214-微波集成电路、光子集成电路和光子装置的性能测定服务;4214-微波集成电路、光子集成电路和光子装置的测试服务 - 903
- 2003-11-14
- 915
- 2004-02-14
- 2004-02-14-2014-02-13
- 邓斯莱特半导体私人有限公司
- 新加坡新加坡************
- 中国贸促会专利商标事务所有限公司
2004-02-03 撤回商标注册申请 | 申请收文
2002-12-05 商标注册申请 | 等待补正回文
2002-12-05 商标注册申请 | 补正回文
2002-12-05 商标注册申请 | 补正收文
2002-09-03 商标注册申请 | 打印受理通知
2002-09-03 商标注册申请 | 等待打印受理通知
2002-07-08 商标注册申请 | 申请收文
- DENSE
- 3235321
- 已销亡
- 普通商标
- 2002-07-08
4207 , 4209 , 4214 4207-技术许可,
4209-微波集成电路、光子集成电路和光子装置的包装设计服务,
4209-微波集成电路、光子集成电路和光子装置的设计服务,
4209-科学研究,
4214-微波集成电路、光子集成电路和光子装置属性的测试服务,
4214-微波集成电路、光子集成电路和光子装置的性能测定服务,
4214-微波集成电路、光子集成电路和光子装置的测试服务
4207-技术许可;4209-微波集成电路、光子集成电路和光子装置的包装设计服务;4209-微波集成电路、光子集成电路和光子装置的设计服务;4209-科学研究;4214-微波集成电路、光子集成电路和光子装置属性的测试服务;4214-微波集成电路、光子集成电路和光子装置的性能测定服务;4214-微波集成电路、光子集成电路和光子装置的测试服务 - 903
- 2003-11-14
- 915
- 2004-02-14
- 2004-02-14-2014-02-13
- 邓斯莱特半导体私人有限公司
- 新加坡新加坡************
- 中国贸促会专利商标事务所有限公司
2004-02-03 撤回商标注册申请 | 申请收文
2002-12-05 商标注册申请 | 等待补正回文
2002-12-05 商标注册申请 | 补正回文
2002-12-05 商标注册申请 | 补正收文
2002-09-03 商标注册申请 | 打印受理通知
2002-09-03 商标注册申请 | 等待打印受理通知
2002-07-08 商标注册申请 | 申请收文