【DATAVIEW】商标详情
- DATAVIEW
- 17031839
- 已注册
- 普通商标
- 2015-05-25
4209 , 4210 , 4216 , 4217 , 4220 4209-替他人研究和开发新产品,
4209-质量评估,
4210-测量,
4216-造型（工业品外观设计）,
4217-建设项目的开发,
4220-计算机硬件设计和 开发咨询,
4220-计算机程序和数据的数据转换（非有形转换）,
4220-计算机系统设计,
4220-计算机软件更新,
4220-计算机软件设计
4209-替他人研究和开发新产品;4209-质量评估;4210-测量;4216-造型（工业品外观设计）;4217-建设项目的开发;4220-计算机硬件设计和开发咨询;4220-计算机程序和数据的数据转换（非有形转换）;4220-计算机系统设计;4220-计算机软件更新;4220-计算机软件设计 - 1501
- 2016-04-27
- 1513
- 2016-07-28
- 2016-07-28-2036-07-27
- 北京华如科技股份有限公司
- 北京市北京市************
- 北京华盛九州知识产权代理有限公司
2025-09-29 商标续展 | 续展证明发文
2025-09-23 商标续展 | 申请收文
2025-09-23 商标续展 | 缴费通知书发文
2016-09-07 商标注册申请 | 注册证发文
2016-09-07 商标注册申请 | 等待注册证发文
2015-09-09 商标注册申请 | 受理通知书发文
2015-09-09 商标注册申请 | 等待受理通知书发文
2015-05-25 商标注册申请 | 申请收文
- DATAVIEW
- 17031839
- 已注册
- 普通商标
- 2015-05-25
4209 , 4210 , 4216 , 4217 , 4220 4209-替他人研究和开发新产品,
4209-质量评估,
4210-测量,
4216-造型（工业品外观设计）,
4217-建设项目的开发,
4220-计算机硬件设计和开发咨询,
4220-计算机程序和数据的数据转换（非有形转换）,
4220-计算机系统设计,
4220-计算机软件更新,
4220-计算机软件设计
4209-替他人研究和开发新产品;4209-质量评估;4210-测量;4216-造型（工业品外观设计）;4217-建设项目的开发;4220-计算机硬件设计和开发咨询;4220-计算机程序和数据的数据转换（非有形转换）;4220-计算机系统设计;4220-计算机软件更新;4220-计算机软件设计 - 1501
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