【TACHYON】商标详情
- TACHYON
- G939216
- 已注册
- 普通商标
- 2007-11-20
0901 , 0910 0901-用于对半导体晶片和电路模板进行设计和加工的计算机硬件及其软件,
0910-用于加工流程中对半导体晶片和电路模板的化学复合物，温度，光图像，厚度，平度，组织，线幅以及污染度进行测量，检测以及检验的度量衡工具和检验工具
0901-用于对半导体晶片和电路模板进行设计和加工的计算机硬件及其软件;0910-用于加工流程中对半导体晶片和电路模板的化学复合物，温度，光图像，厚度，平度，组织，线幅以及污染度进行测量，检测以及检验的度量衡工具和检验工具 - 2017-08-27-2027-08-27
- ASML NETHERLANDS B.V.
- 北布拉班特省费尔德霍芬************
- 国际局
2018-03-14 国际续展 | 申请核准审核
2017-10-15 国际续展 | 申请收文
2008-09-04 商标注册申请 | 国际领土延伸 完成
2008-09-04 领土延伸 | 审查
2007-11-20 领土延伸 | 申请收文
- TACHYON
- G939216
- 已注册
- 普通商标
- 2007-11-20
0901 , 0910 0901-用于对半导体晶片和电路模板进行设计和加工的计算机硬件及其软件,
0910-用于加工流程中对半导体晶片和电路模板的化学复合物，温度，光图像，厚度，平度，组织，线幅以及污染度进行测量，检测以及检验的度量衡工具和检验工具
0901-用于对半导体晶片和电路模板进行设计和加工的计算机硬件及其软件;0910-用于加工流程中对半导体晶片和电路模板的化学复合物，温度，光图像，厚度，平度，组织，线幅以及污染度进行测量，检测以及检验的度量衡工具和检验工具 - 2017-08-27-2027-08-27
- ASML NETHERLANDS B.V.
- 北布拉班特省费尔德霍芬************
- 国际局
2018-03-14 国际续展 | 申请核准审核
2017-10-15 国际续展 | 申请收文
2008-09-04 商标注册申请 | 国际领土延伸完成
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2007-11-20 领土延伸 | 申请收文
