【IMPULSE】商标详情
- IMPULSE
- G1657147
- 待审中
- 普通商标
- 2022-04-21
-薄膜、结构和晶片表面测量装置，即用于设计成能装在里面或安装在上面的量测和检查工具，以及控制生产设备和量测设备，上述产品用于集成电路制造
-薄膜、结构和晶片表面测量装置，即用于设计成能装在里面或安装在上面的量测和检查工具，以及控制生产设备和量测设备，上述产品用于集成电路制造 - ONTO INNOVATION INC.
- 特拉华威尔明顿************
- 国际局
2023-09-02 驳回复审 | 实审裁文发文
2022-11-13 驳回复审 | 申请收文
2022-11-11 驳回复审 | 申请收文
2022-11-10 驳回复审 | 申请收文
2022-11-01 领土延伸 | 等待驳回电子发文
2022-11-01 领土延伸 | 驳回电子发文
2022-04-21 商标注册申请 | 申请收文
2022-04-21 领土延 伸 | 申请收文
- IMPULSE
- G1657147
- 待审中
- 普通商标
- 2022-04-21
-薄膜、结构和晶片表面测量装置，即用于设计成能装在里面或安装在上面的量测和检查工具，以及控制生产设备 和量测设备，上述产品用于集成电路制造
-薄膜、结构和晶片表面测量装置，即用于设计成能装在里面或安装在上面的量测和检查工具，以及控制生产设备和量测设备，上述产品用于集成电路制造 - ONTO INNOVATION INC.
- 特拉华威尔明顿************
- 国际局
2023-09-02 驳回复审 | 实审裁文发文
2022-11-13 驳回复审 | 申请收文
2022-11-11 驳回复审 | 申请收文
2022-11-10 驳回复审 | 申请收文
2022-11-01 领土延伸 | 等待驳回电子发文
2022-11-01 领土延伸 | 驳回电子发文
2022-04-21 商标注册申请 | 申请收文
2022-04-21 领土延伸 | 申请收文
