【NEWVIEW】商标详情
- NEWVIEW
- G997538
- 已注册
- 普通商标
- 2009-04-29
0910 , 0911 0910-用于测量表明特征和薄膜厚度的光学剖面仪,
0911-用于测量表明特征和薄膜厚度的光学剖面仪
0910-用于测量表明特征和薄膜厚度的光学剖面仪;0911-用于测量表明特征和薄膜厚度的光学剖面仪 - 2019-01-30-2029-01-30
- ZYGO CORPORATION
- 康涅狄格米德尔顿************
- 国际局
2019-03-20 国际续展 | 申请核准审核
2019-02-19 国际续展 | 申请收文
2010-02-25 商标注册申请 | 国际领土延伸完成
2010-02-25 领土延伸 | 审查
2009-04-29 领土延伸 | 申请收文
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- G997538
- 已注册
- 普通商标
- 2009-04-29
0910 , 0911 0910-用于测量表明特征和薄膜厚度的光学剖面仪,
0911-用于测量表明特征和薄膜厚度的光学剖面仪
0910-用于测量表明特征和薄膜厚度的光学剖面仪;0911-用于测量表明特征和薄膜厚度的光学剖面仪 - 2019-01-30-2029-01-30
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