【NANOVEA】商标详情
- NANOVEA
- G888704
- 已销亡
- 普通商标
- 2006-08-18
0905 , 0910 , 0911 0905-工具测量仪器,
0905-测量长度的仪器,
0910-工具测量仪器,
0910-用于探测和测量力和压力的二维分配的仪器,
0910-表面粗糙度的检测机器和仪器,
0910-金属硬度检测机械,
0911-工业用光学检验设备
0905-工具测量仪器;0905-测量长度的仪器;0910-工具测量仪器;0910-用于探测和测量力和压力的二维分配的仪器;0910-表面粗糙度的检测机器和仪器;0910-金属硬度检测机械;0911-工业用光学检验设备 - 2006-02-03-2016-02-03
- NANOVEA INC.
- 加利福尼亚欧文************
- 国际局
2012-11-26 商标注册申请 | 国际转让中
2007-04-17 商标注册申请 | 国际领土延伸完成
2007-04-17 领土延伸 | 审查
2006-08-18 领土延伸 | 申请收文
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- G888704
- 已销亡
- 普通商标
- 2006-08-18
0905 , 0910 , 0911 0905-工具测量仪器,
0905-测量长度的仪器,
0910-工具测量仪器,
0910-用于探测和测量力和压力的二维分配的仪器,
0910-表面粗糙度的检测机器和仪器,
0910-金属硬度检测机械,
0911-工业用光学检验设备
0905-工具测量仪器;0905-测量长度的仪器;0910-工具测量仪器;0910-用于探测和测量力和压力的二维分配的仪器;0910-表面粗糙度的检测机器和仪器;0910-金属硬度检测机械;0911-工业用光学检验设备 - 2006-02-03-2016-02-03
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- 加利福尼亚欧文************
- 国际局
2012-11-26 商标注册申请 | 国际转让中
2007-04-17 商标注册申请 | 国际领土延伸完成
2007-04-17 领土延伸 | 审查
2006-08-18 领土延伸 | 申请收文
