【COPPER MOUNTAIN TECHNOLOGIES】商标详情
- COPPER MOUNTAIN TECHNOLOGIES
- G1430359
- 已注册
- 普通商标
- 2018-10-25
4209 , 4210 , 4214 , 4220 4209-使用向量网络分析对电子元件、系统或材料进行测试、测量、分析、特征和校准服务,
4209-电子、射频和成像设备和系统的测试、测量、分析、特征和校准服务,
4210-使用向量网络分析对电子元件、系统或材料进行测试、测量、分析、特征和校准服务,
4210-电子、射频 和成像设备和系统的测试、测量、分析、特征和校准服务,
4214-使用向量网络分析对电子元件、系统或材料进行测试、测量、分析、特征和校准服务,
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4220-使用向量网络分析对电子元件、系统或材料进行测试、测量、分析、特征和校准服务,
4220-电子、射频和成像设备和系统的测试、测量、分析、特征和校准服务
4209-使用向量网络分析对电子元件、系统或材料进行测试、测量、分析、特征和校准服务;4209-电子、射频和成像设备和系统的测试、测量、分析、特征和校准服务;4210-使用向量网络分析对电子元件、系统或材料进行测试、测量、分析、特征和校准服务;4210-电子、射频和成像设备和系统的测试、测量、分析、特征和校准服务;4214-使用向量网络分析对电子元件、系统或材料进行测试、测量、分析、特征和校准服务;4214-电子、射频和成像设备和系统的测试、测量、分析、特征和校准服务;4220-使用向量网络分析对电子元件、系统或材料进行测试、测量、分析、特征和校准服务;4220-电子、射频和成像设备和系统的测试、测量、分析、特征和校准服务 - 2018-03-12-2028-03-12
- COPPER MOUNTAIN TECHNOLOGIES, LLC
- 印第安纳印第安纳波利斯************
- 国际局
2019-03-13 领土延伸 | 审查
2018-10-25 商标注册申请 | 申请收文
2018-10-25 领土延伸 | 申请收文
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4209-电子、射频和成像设备和系统的测试、测量、分析、特征和校准服务,
4210-使用向量网络分析对电子元件、系统或材料进行测试、测量、分析、特征和校准服务,
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4220-使用向量网络分析对电子元件、系统或材料进行测试、测量、分析、特征和校准服务,
4220-电子、射频和成像设备和系统的测试、测量、分析、特征和校准服务
4209-使用向量网络分析对电子元件、系统或材料进行测试、测量、分析、特征和校准服务;4209-电子、射频和成像设备和系统的测试、测量、分析、特征和校准服务;4210-使用向量网络分析对电子元件、系统或材料进行测试、测量、分析、特征和校准服务;4210-电子、射频和成像设备和系统的测试、测量、分析、特征和校准服务;4214-使用向量网络分析对电子元件、系统或材料进行测试、测量、分析、特征和校准服务;4214-电子、射频和成像设备和系统的测试、测量、分析、特征和校准服务;4220-使用向量网络分析对电子元件、系统或材料进行测试、测量、分析、特征和校准服务;4220-电子、射频和成像设备和系统的测试、测量、分析、特征和校准服务 - 2018-03-12-2028-03-12
- COPPER MOUNTAIN TECHNOLOGIES, LLC
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