【安格斯】商标详情
- 安格斯
- 35430122
- 已注册
- 普通商标
- 2018-12-20
4209 , 4211 , 4214 , 4216 , 4220 -制造和工艺改进(污染识别、测量和控制领域),
-工程学(半导体、微电子和平板显示器领域),
-技术和支持服务(具有在先进材料和化学前体及其 (即薄膜材料、有机金属源试剂化合物,化学气相沉积设备和化学气相沉积用化学试剂输送系统、半导体和化学试剂)领域,通过提供工程设计和产品信息、在先进材料和化学前体及其产品进行故障排除性质的,在集成电路的软件开发、集成电路核心结构、电子系统和子系 统、编码集成电路卡和智能卡、用于材料无损分析的设备和软件、用于监测流体和流体的材料以确定特定部件的存在、特性和浓度的设备和软件、分析监测和过程控制设备以及压电化学分析设备领域的计算机硬件和软件),
-技术咨询(半导体、微电子和平板显示器领域),
-技术咨询(半导体晶片和电子元件的运输、加工、存储和包装领域),
-技术咨询(用于半导体晶片和电子元件的载体和容器的使用、清洁和回收领域),
-科学和技术咨询和研究服务(半导体制造设备中标线载体工作环境,即污染监测、控制、工艺反应和工艺改进),
4209-半导体加工技术研究,
4209-工程学,
4209-技术项目研究,
4209-科学研究和开发,
4211-化学生产方法的开发和测试,
4214-材料测试,
4216-工业品外观设计,
4220-信息技术咨询服务,
4220-计算机软件设计
-制造和工艺改进(污染识别、测量和控制领域);-工程学(半导体、微电子和平板显示器领域);-技术和支持服务(具有在先进材料和化学前体及其 (即薄膜材料、有机金属源试剂化合物,化学气相沉积设备和化学气相沉积用化学试剂输送系统、半导体和化学试剂)领域,通过提供工程设计和产品信息、在先进材料和化学前体及其产品进行故障排除性质的,在集成电路的软件开发、集成电路核心结构、电子系统和子系统、编码集成电路卡和智能卡、用于材料无损分析的设备和软件、用于监测流体和流体的材料以确定特定部件的存在、特性和浓度的设备和软件、分析监测和过程控制设备以及压电化学分析设备领域的计算机硬件和软件);-技术咨询(半导体、微电子和平板显示器领域);-技术咨询(半导体晶片和电子元件的运输、加工、存储和包装领域);-技术咨询(用于半导体晶片和电子元件的载体和容器的使用、清洁和回收领域);-科学和技术咨询和研究服务(半导体制造设备中标线载体工作环境,即污染监测、控制、工艺反应和工艺改进);4209-半导体加工技术研究;4209-工程学;4209-技术项目研究;4209-科学研究和开发;4211-化学生产方法的开发和测试;4214-材料测试;4216-工业品外观设计;4220-信息技术咨询服务;4220-计算机软件设计 - 1678
- 2020-01-06
- 1690
- 2020-04-07
- 2020-04-07-2030-04-06
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- 马萨诸塞比尔里卡************
- 北京律盟知识产权代理有限责任公司
2024-03-01 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 核准证明打印发送
2024-01-19 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 补正通知打印发送
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2020-06-24 商标注册申请 | 注册证发文
2020-06-13 变更商标代理人 | 核准通知打印发送
2020-05-14 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2020-05-13 变更商标代理人 | 申请收文
2020-05-12 变更商标代理人 | 申请收文
2020-05-12 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2019-12-16 商标注册申请 | 等待驳回复审
2019-10-22 商标注册申请 | 驳回通知发文
2019-04-24 商标注册申请 | 受理通知书发文
2019-03-06 商标注册申请 | 等待补正回文
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-工程学(半导体、微电子和平板显示器领域),
-技术和支持服务(具有在先进材料和化学前体及其 (即薄膜材料、有机金属源试剂化合物,化学气相沉积设备和化学气相沉积用化学试剂输送系统、半导体和化学 试剂)领域,通过提供工程设计和产品信息、在先进材料和化学前体及其产品进行故障排除性质的,在集成电路的软件开发、集成电路核心结构、电子系统和子系统、编码集成电路卡和智能卡、用于材料无损分析的设备和软件、用于监测流体和流体的材料以确定特定部件的存在、特性和浓度的设备和软件、分析监测和过程控制设备以及压电化学分析设备领域的计算机硬件和软件),
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-制造和工艺改进(污染识别、测量和控制领域);-工程学(半导体、微电子和平板显示器领域);-技术和支持服务(具有在先进材料和化学前体及其 (即薄膜材料、有机金属源试剂化合物,化学气相沉积设备和化学气相沉积用化学试剂输送系统、半导体和化学试剂)领域,通过提供工程设计和产品信息、在先进材料和化学前体及其产品进行故障排除性质的,在集成电路的软件开发、集成电路核心结构、电子系统和子系统、编码集成电路卡和智能卡、用于材料无损分析的设备和软件、用于监 测流体和流体的材料以确定特定部件的存在、特性和浓度的设备和软件、分析监测和过程控制设备以及压电化学分析设备领域的计算机硬件和软件);-技术咨询(半导体、微电子和平板显示器领域);-技术咨询(半导体晶片和电子元件的运输、加工、存储和包装领域);-技术咨询(用于半导体晶片和电子元件的载体和容器的使用、清洁和回收领域);-科学和技术咨询和研究服务(半导体制造设备中标线载体工作环境,即污染监测、控制、工艺反应和工艺改进);4209-半导体加工技术研究;4209-工程学;4209-技术项目研究;4209-科学研究和开发;4211-化学生产方法的开发和测试;4214-材料测试;4216-工业品外观设计;4220-信息技术咨询服务;4220-计算机软件设计 - 1678
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