【VIEEW】商标详情
- VIEEW
- 3453171
- 已销亡
- 普通商标
- 2003-01-31
0910 0910-对物质表面损耗程度进行量化的光学仪器,
0910-表面分析仪器
0910-对物质表面损耗程度进行量化的光学仪器;0910-表面分析仪器 - 923
- 2004-04-14
- 935
- 2004-07-14
- 2004-07-14-2014-07-13
- 阿特拉斯材料测试技术有限公司
- 伊利诺伊芝加哥************
- 中国贸促会专利商标事务所有限公司
2016-09-16 期满未续展注销商标 | 排版未续展注销公告
2004-08-03 商标注册申请 | 打印注册证
2003-02-18 商标注册申请 | 打印受理通知
2003-02-18 商标注册申请 | 等待打印受理通知
2003-01-31 商标注册申请 | 申请收文
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- 2003-01-31
0910 0910-对物质表面损耗程度进行量化的光学仪器,
0910-表面分析仪器
0910-对物质表面损耗程度进行量化的光学仪器;0910-表面分析仪器 - 923
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- 935
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- 阿特拉斯材料测试技术有限公司
- 伊利 诺伊芝加哥************
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