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0744-下述用途的光学计量、表征和检查系统，其包括成套出售的机器、组件和操作软件，即用于生产包括分立电子部件的层状衬底、包括非易失性和易失性存储器件的半导体、铸造和逻辑器件、asic器件、cmos图像传感器、微机电系统、发光二极管和其他微纳技术器件、封装系统、异质封装以及其他先进的封装电子技术,

0744-下述用途的光学计量、表征和检查系统，其包括成套出售的机器、组件和操作软件，即用于生产精密加工的光学表面、光学涂层和光学组件，包括参考平面、球体、非球面和由折射和反射部件组成的组件,

0744-用于在层状衬底上制造微电子、集成电路、发光二极管和半导体的光刻机，包括晶片、玻璃面板和封装面板，例如铜板或塑料,

0745-下述用途的光学计量、表征和检查系统，其包括成套出售的机器、组件和操作软件，即用于生产包括分立电子部件的层状衬底、包括非易失性和易失性存储器件的半导体、铸造和逻辑器件、asic器件、cmos图像传感器、微机电系统、发光二极管和其他微纳技术器件、封装系统、异质封装以及其他先进的封装电子技术,

0745-下述用途的光学计量、表征和检查系统，其包括成套出售的机器、组件和操作软件，即用于生产精密加工的光学表面、光学涂层和光学组件，包括参考平面、球体、非球面和由折射和反射部件组成的组件