【XACT】商标详情
- XACT
- G1775468
- 待审中
- 普通商标
- 2024-02-08
0910 0910-半导体晶片检测系统，其用于检查半导体晶片的暗场缺陷，包括颗粒、划痕和凸起
0910-半导体晶片检测系统，其用于检查半导体晶片的暗场缺陷，包括颗粒、划痕和凸起 - APPLIED MATERIALS， INC.
- 加利福尼亚圣克拉拉************
- 国际局
2024-07-19 驳回复审 | 申请收文
2024-07-11 领土延伸 | 驳回电子发文
2024-02-08 领土延伸 | 申请收文
- XACT
- G1775468
- 待审中
- 普通商标
- 2024-02-08
0910 0910-半导体晶片检测系统，其用于检查半导体晶片的暗场缺陷，包括颗粒、划痕和凸起
0910-半导体晶片检测系统，其用于检查半导体晶片的暗场缺陷，包括颗粒、划痕和凸起 - APPLIED MATERIALS， INC.
- 加利福尼亚圣克拉拉************
- 国际局
2024-07-19 驳回复审 | 申请收文
2024-07-11 领土延伸 | 驳回电子发文
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