【纵横域】商标详情
- 纵横域
- 81706010
- 已注册
- 普通商标
- 2024-10-31
4209 , 4212 , 4214 , 4220 4209-为他人研究和开发新产品,
4209-半导体加工技术研究,
4209-半导体封装设计,
4209-半导体设计,
4209-技术开发领域的咨询服务,
4209-集成电路设计,
4212-DNA芯片技术领域的研究,
4214-产品测试,
4214-材料测试,
4220-芯片设计软件开发
4209-为他人研究和开发新产品;4209-半导体加工技术研究;4209-半导体封装设计;4209-半导体设计;4209-技术开发领域的咨询服务;4209-集成电路设计;4212-DNA芯片技术领域的研究;4214-产品测试;4214-材料测试;4220-芯片设计软件开发 - 1929
- 2025-03-27
- 1941
- 2025-06-28
- 2025-06-28-2035-06-27
- 珠海天成先进半导体科技有限公司
- 广东省珠海市************
- 北京中铭联合商标事务所有限公司
2025-09-08 商标注册申请 | 注册证发文
2025-03-15 商标注册申请 | 等待驳回复审
2025-01-18 商标注册申请 | 驳回通知发文
2024-11-29 商标注册申请 | 受理通知书发文
2024-10-31 商标注册申请 | 申请收文
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- 已注册
- 普通商标
- 2024-10-31
4209 , 4212 , 4214 , 4220 4209-为他人研究和开发新产品,
4209-半导体加工技术研究,
4209-半导体封装设计,
4209-半导体设计,
4209-技术开发领域的咨询服务,
4209-集成电路设计,
4212-DNA芯片技术 领域的研究,
4214-产品测试,
4214-材料测试,
4220-芯片设计软件开发
4209-为他人研究和开发新产品;4209-半导体加工技术研究;4209-半导体封装设计;4209-半导体设计;4209-技术开发领域的咨询服务;4209-集成电路设计;4212-DNA芯片技术领域的研究;4214-产品测试;4214-材料测试;4220-芯片设计软件开发 - 1929
- 2025-03-27
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- 珠海天成先进半导体科技有限公司
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2025-09-08 商标注册申请 | 注册证发文
2025-03-15 商标注册申请 | 等待驳回复审
2025-01-18 商标注册申请 | 驳回通知发文
2024-11-29 商标注册申请 | 受理通知书发文
2024-10-31 商标注册申请 | 申请收文
