【KSI】商标详情
- KSI
- 42150669
- 已注册
- 普通商标
- 2019-11-06
4209 , 4210 , 4211 , 4212 , 4213 , 4214 , 4216 , 4217 , 4218 , 4224 , 4227 4209-技术研究,
4209-质量控制,
4210-校准（测量）,
4211-化学分析,
4212-医学研究,
4213-气象信息,
4214-材料测试,
4216-工业品外观设计,
4217-建筑学服务,
4218-服装设计,
4224-艺术品鉴定,
4227-地图绘制服务,
4227-平面美术设计,
4227-无形资产评估,
4227-笔迹分析（笔迹学）
4209-技术研究;4209-质量控制;4210-校准（测量）;4211-化学分析;4212-医学研究;4213-气象信息;4214-材料测试;4216-工业品外观设计;4217-建筑学服务;4218-服装设计;4224-艺术品鉴定;4227-地图绘制服务;4227-平面美术设计;4227-无形资产评估;4227-笔迹分析（笔迹学） - 1692
- 2020-04-20
- 1704
- 2020-07-21
- 2020-07-21-2030-07-20
- 上海西赫多光电有限公司
- 上海市上海市************
- 杭州知协网络技术有限公司
2020-08-22 商标注册申请 | 注册证发文
2019-11-25 商标注册申请 | 受理通知书发文
2019-11-06 商标注册申请 | 申请收文
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- 已注册
- 普通商标
- 2019-11-06
4209 , 4210 , 4211 , 4212 , 4213 , 4214 , 4216 , 4217 , 4218 , 4224 , 4227 4209-技术研究,
4209-质量控制,
4210-校准（测量）,
4211-化学分析,
4212-医学研究,
4213-气象信息,
4214-材料测试,
4216-工业品外观设计,
4217-建筑学服务,
4218-服装设计,
4224-艺术品鉴定,
4227-地图绘制服务,
4227-平面美术设计,
4227-无形资产评估,
4227-笔迹分析（笔迹学）
4209-技术研究;4209-质量控制;4210-校准（测量）;4211-化学分析;4212-医学研究;4213-气象信息;4214-材料测试;4216-工 业品外观设计;4217-建筑学服务;4218-服装设计;4224-艺术品鉴定;4227-地图绘制服务;4227-平面美术设计;4227-无形资产评估;4227-笔迹分析（笔迹学） - 1692
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2020-08-22 商标注册申请 | 注册证发文
2019-11-25 商标注册申请 | 受理通知书发文
2019-11-06 商标注册申请 | 申请收文
