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0901-半导体和晶片缺陷检查系统，包括计算机软件、最终测试数据和电气数据算法，以及在线缺陷和计量计算机硬件设备,

0901-用于制造半导体和集成电路中事件预测的计算机硬件和软件,

0901-用于半导体、集成电路和相关微电子产品制造行业的过程控制和效益管理的计算机软件,

0901-用于提供关于检测和量测工具性能的分析数据的计算机软件,

0901-用于检测有缺陷的半导体电子组件的计算机软件,

0901-用于测试、检查、性能研究和预测半导体、集成电路、微电子产品、晶片和光刻掩模的物理和电气特性的计算机硬件和软件,

0901-用于监测、控制和改进半导体和集成电路制造过程的计算机硬件和软件,

0901-经过调整的计算机硬件工具，即用于半导体、薄膜磁头和使用相同制造技术的相关行业领域的检查、计量和测试硬件,

0901-计算机硬件,

0910-用于半导体和集成电路测试、检查和物理特性描述的仪器,

0913-用于半导体和集成电路测试、检查和物理特性描述的仪器