【VERA】商标详情
- VERA
- G1634674
- 已注册
- 普通商标
- 2021-12-23
0744 0744-计量系统，即用于检测半导体器件制造过程中产生的晶片上缺陷和微粒的深紫外激光扫描设备
0744-计量系统，即用于检测半导体器件制造过程中产生的晶片上缺陷和微粒的深紫外激光扫描设备 - 2021-11-23-2031-11-23
- APPLIED MATERIALS， INC.
- 加利福尼亚洛思加图斯************
- 国际局
2022-06-20 领土延伸 | 审查
2021-12-23 领土延伸 | 申请收文
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- G1634674
- 已注册
- 普通商标
- 2021-12-23
0744 0744-计量系统，即用于检测半导体器件制造过程中产生的晶片上缺陷和微粒的深紫外激光扫描设备
0744-计量系统，即用于检测半导体器件制造过程中产生的晶片上缺陷和微粒的深紫外激光扫描设备 - 2021-11-23-2031-11-23
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