【DB HITEK】商标详情
- DB HITEK
- 28412567
- 已注册
- 普通商标
- 2017-12-29
4209 , 4214 , 4220 4209-半导体测试,
4209-半导体芯片设计,
4209-半导体设计,
4209-集成电路设计,
4214-半导体测试,
4220-计算机微芯片设计
4209-半导体测试;4209-半导体芯片设计;4209-半导体设计;4209-集成电路设计;4214-半导体测试;4220-计算机微芯片设计 - 1614
- 2018-09-06
- 1626
- 2018-12-07
- 2018-12-07-2028-12-06
- DB公司
- 首尔特别市首尔************
- 上海金天知识产权代理有限公司
2019-01-13 商标注册申请 | 注册证发文
2018-08-15 商标注册申请 | 受理通知书发文
2018-07-20 商标注册申请 | 等待补正回文
2018-07-20 商标注册申请 | 补正回文
2018-06-08 商标注册申请 | 补正通知发文
2018-01-01 商标注册申请 | 申请收文
2017-12-29 商标注册申请 | 申请收文
- DB HITEK
- 28412567
- 已注册
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- 2017-12-29
4209 , 4214 , 4220 4209-半导体测试,
4209-半导体芯片设计,
4209-半导体设计,
4209-集成电路设计,
4214-半导体测试,
4220-计算机微芯片设计
4209-半导体测试;4209-半导体芯片设计;4209-半导体设计;4209-集成电路设计;4214-半导体测试;4220-计算机微芯片设计 - 1614
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