【K GFU】商标详情
- K GFU
- 57399475
- 已注册
- 普通商标
- 2021-07-02
4209 , 4214 4209-半导体加工技术研究,
4209-半导体封装设计,
4209-半导体设计,
4209-研究和开发新产品,
4209-科学实验室服务,
4209-质量控制,
4209-质量评估,
4214-产品测试,
4214-原材料测试,
4214-材料测试
4209-半导体加工技术研究;4209-半导体封装设计;4209-半导体设计;4209-研究和开发新产品;4209-科学实验室服务;4209-质量控制;4209-质量评估;4214-产品测试;4214-原材料测试;4214-材料测试 - 1763
- 2021-10-13
- 1775
- 2022-01-14
- 2022-01-14-2032-01-13
- 上海芯旺微电子技术股份有限公司
- 上海市上海市************
- 上海尚标知识产权代理有限公司
2023-03-15 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 核准证明打印发送
2023-03-02 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2022-07-30 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 核准证明打印发送
2022-07-21 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 补正通知打印发送
2022-06-19 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2022-06-17 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2022-02-10 商标注册申请 | 注册证发文
2021-07-23 商标注册申请 | 受理通知书发文
2021-07-02 商标注册申请 | 申请收文
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4209-半导体封装设计,
4209-半导体设计,
4209-研究和开发新产品,
4209-科学实验室服务,
4209-质量控制,
4209-质量评估,
4214-产品测试,
4214-原材料测试,
4214-材料测试
4209-半导体加工技术研究;4209-半导体封装设计;4209-半导体设计;4209-研究和开发新产品;4209-科学实验室服务;4209-质量控制;4209-质量评估;4214-产品测试;4214-原材料测试;4214-材料测试 - 1763
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2022-02-10 商标注册申请 | 注册证发文
2021-07-23 商标注册申请 | 受理通知书发文
2021-07-02 商标注册申请 | 申请收文
