【RVIEW】商标详情
- RVIEW
- 67474674
- 已注册
- 普通商标
- 2022-09-28
0901 , 0910 , 0913 0901-处理半导体晶片用计算机软件,
0910-半导体测试设备,
0910-测量仪器,
0910-测量器械和仪器,
0910-测量装置,
0910-浓度计,
0910-精密 测量仪器,
0910-红外探测装置,
0913-半导体,
0913-硅外延片
0901-处理半导体晶片用计算机软件;0910-半导体测试设备;0910-测量仪器;0910-测量器械和仪器;0910-测量装置;0910-浓度计;0910-精密测量仪器;0910-红外探测装置;0913-半导体;0913-硅外延片 - 1833
- 2023-03-27
- 1845
- 2023-06-28
- 2023-06-28-2033-06-27
- 上海优睿谱半导体设备有限公司
- 上海市上海市************
- 北京倍增知识产权代理有限公司
2023-07-22 商标注册申请 | 注册证发文
2023-03-16 商标注册申请 | 等待驳回复审
2023-01-19 商标注册申请 | 等待驳回通知发文
2023-01-19 商标注册申请 | 驳回通知发文
2022-10-15 商标注册申请 | 受理通知书发文
2022-10-15 商标注册申请 | 等待受理通知书发文
2022-09-28 商标注册申请 | 申请收文
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0901 , 0910 , 0913 0901-处理半导体晶片用计算机软件,
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0913-半导体,
0913-硅外延片
0901-处理半导体晶片用计算机软件;0910-半导体测试设备;0910-测量仪器;0910-测量器械和仪器;0910-测量装置;0910-浓度计;0910-精密测量仪器;0910-红外探测装置;0913-半导体;0913-硅外延片 - 1833
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