【EPIREVO】商标详情
- EPIREVO
- G1222565
- 已注册
- 普通商标
- 2014-11-13
0729 , 0744 0729-化学气相沉积(CVD)设备,
0729-用于上述设备的器械和装置,即,减压控制装置,温度控制装置,转动控制装置,其他控制装置,气体供给装置,废气处理装置,晶片承载装置,晶片搬运机器人,晶片清洗装置,温度测量装置,晶片曲率的测量装置,
0729-金属有机化学气相沉积(MOCVD)设备,
0744-其他的半导体生产设备,
0744-半导体晶片的电解沉积设备,
0744-在半导体晶片上进行复合半导体薄膜成型的设备,
0744-在半导体晶片上进行外延生长的设备,
0744-用于上述产品的 零部件、附加装置以及管子,
0744-蚀刻装置
0729-化学气相沉积(CVD)设备;0729-用于上述设备的器械和装置,即,减压控制装置,温度控制装置,转动控制装置,其他控制装置,气体供给装置,废气处理装置,晶片承载装置,晶片搬运机器人,晶片清洗装置,温度测量装置,晶片曲率的测量装置;0729-金属有机化学气相沉积(MOCVD)设备;0744-其他的半导体生产设备;0744-半导体晶片的电解沉积设备;0744-在半导体晶片上进行复合半导体薄膜成型的设备;0744-在半导体晶片上进行外延生长的设备;0744-用于上述产品的零部件、附加装置以及管子;0744-蚀刻装置 - 2024-04-02-2034-04-02
- 国际局
2024-05-16 国际续展 | 申请核准审核
2024-04-21 国际续展 | 申请收文
2015-09-15 领土延伸 | 审查
2014-11-13 领土延伸 | 申请收文
- EPIREVO
- G1222565
- 已注册
- 普通商标
- 2014-11-13
0729 , 0744 0729-化学气相沉积(CVD)设备,
0729-用于上述设备的器械和装置,即,减压控制装置,温度控制装置,转动控制装置,其他控制装置,气体供给装置,废气处理装置,晶片承载装置,晶片搬运机器人,晶片清洗装置,温度测量装置,晶片曲率的测量装置,
0729-金属有机化学气相沉积(MOCVD)设备,
0744-其他的半导体生产设备,
0744-半导体晶片的电解沉积设备,
0744-在半导体晶片上进行复合半导体薄膜成型的设备,
0744-在半导体晶片上进行外延生长的设备,
0744-用于上述产品的零部件、附加装置以及管子,
0744-蚀刻装置
0729-化学气相沉积(CVD)设备;0729-用于上述设备的器械和装置,即,减压控制装置,温度控制装置,转动控制装置,其他控制装置,气体供给装置,废气处理装置,晶片承载装置,晶片搬运机器人,晶片清洗装置,温度测量装置,晶片曲率的测量装置;0729-金属有机化学气相沉积(MOCVD)设备;0744-其他的半导体生产设备;0744-半导体晶片的电解沉积设备;0744-在半导体晶片上进行复合半导体薄膜成型的设备;0744-在半导体晶片上进行外延生长的设备;0744-用于上述产品的零部件、附加装置以及管子;0744-蚀刻装置 - 2024-04-02-2034-04-02
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