【SEMILAB】商标详情
- SEMILAB
- G1769856
- 待审中
- 普通商标
- 2024-01-04
3706 3706-下列商品的检修和维护：用于对半导体块、半导体晶片、半导体工业半成品、薄膜结构和其他显微结构进行光学或电学测量的设备
3706-下列商品的检修和维护：用于对半导体块、半导体晶片、半导体工业半成品、薄膜结构和其他显微结构进行光学或电学测量的设备 - SEMILAB ZRT.
- 布达佩斯布达佩斯************
- 国际局
2024-09-26 领土延伸 | 驳回电子发文
2024-01-04 商标注册申请 | 申请收文
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- 待审中
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3706 3706-下列商品的检修和维护：用于对半导体块、半导体晶片、半导体工业半成品、薄膜结构和其他显微结构进行光学或电学测量的设备
3706-下列商品的检修和维护：用于对半导体块、半导体晶片、半导体工业半成品、薄膜结构和其他显微结构进行光学或电学测量的设备 - SEMILAB ZRT.
- 布达佩斯布达佩斯************
- 国际局
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