【RETICLEAN】商标详情
- RETICLEAN
- G1343026
- 已注册
- 普通商标
- 2017-05-04
0901 , 0910 0901-用于加工和生产半导体基板、薄膜、硅磁盘和晶片的设备和机器，即过程监控软件和半导体测量设备，具有诊断计算机和电子成像设备的性质，用于测量和检查半导体加工和生产,
0910-用于加工和生产半导体基板、薄膜、硅磁盘和晶片的设备和机器，即过程监控软件和半导体测量设备，具有诊断计算机和电子成像设备的性质，用于测量和检查半导体加工和生产
0901-用于加工和生产半导体基板、薄膜、硅磁盘和晶片的设备和机器，即过程监控软件和半导体测量设备 ，具有诊断计算机和电子成像设备的性质，用于测量和检查半导体加工和生产;0910-用于加工和生产半导体基板、薄膜、硅磁盘和晶片的设备和机器，即过程监控软件和半导体测量设备，具有诊断计算机和电子成像设备的性质，用于测量和检查半导体加工和生产 - 2016-09-20-2026-09-20
- APPLIED MATERIALS， INC.
- 加利福尼亚圣克拉拉************
- 国际局
2018-09-25 领土延伸 | 审查
2017-05-04 领土延伸 | 申请收文
- RETICLEAN
- G1343026
- 已注册
- 普通商标
- 2017-05-04
0901 , 0910 0901-用于加工和生产半导体基板、薄膜、硅磁盘和晶片的设备和机器，即过程监控软件和半导体测量设备，具有诊断计算机和电子成像设备的性质，用于测量和检查半导体加工和生产,
0910-用于加工和生产半导体基板、薄膜、硅磁盘和晶片的设备和机器，即过程监控软件和半导体测量设备，具有诊断计算机和电子成像设备的性质，用于测量和检查半导体加工和生产
0901-用于加工和生产半导体基板、薄膜、硅磁盘和晶片的设备和机器，即过程监控软件和半导体测量设备，具有诊断计算机和电子成像设备的性质，用于测量和检查半导体加工和生产;0910-用于加工和生产半导体基板、薄膜、硅磁盘和晶片的设备和机器，即过程监控软件和半导体测量设备，具有诊断计算机和电子成像设备的性质，用于测量和检查半导体加工和生产 - 2016-09-20-2026-09-20
- APPLIED MATERIALS， INC.
- 加利福尼亚圣克拉拉************
- 国际局
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2017-05-04 领土延伸 | 申请收文
