【CIRCL-AP】商标详情
- CIRCL-AP
- G1274760
- 已销亡
- 普通商标
- 2015-11-19
0901 , 0910 , 0913 0901-用于半导体、集成电路和微电子产品的物理和电气属性测试和检查的计算机软件,
0901-用于半导体、集成电路和相关微电子产品制造行业的过程控制和效益管理的计算机软件,
0901-用于提供关于检测和量测工具性能的分析数据的计算机软件,
0901-计算机硬件,
0910-集束型设备，即半导体晶片形状量 测以及晶片缺陷检测用电子设备,
0913-集束型设备，即半导体晶片形状量测以及晶片缺陷检测用电子设备
0901-用于半导体、集成电路和微电子产品的物理和电气属性测试和检查的计算机软件;0901-用于半导体、集成电路和相关微电子产品制造行业的过程控制和效益管理的计算机软件;0901-用于提供关于检测和量测工具性能的分析数据的计算机软件;0901-计算机硬件;0910-集束型设备，即半导体晶片形状量测以及晶片缺陷检测用电子设备;0913-集束型设备，即半导体晶片形状量测以及晶片缺陷检测用电子设备 - 2015-10-06-2025-10-06
- KLA-TENCOR CORPORATION
- 加利福尼亚米尔皮塔斯************
- 国际局
2019-02-04 国际注销 | 申请收文
2017-01-05 领土延伸 | 审查
2015-11-19 商标注册申请 | 申请收文
2015-11-19 领土延伸 | 申请收文
- CIRCL-AP
- G1274760
- 已销亡
- 普通商标
- 2015-11-19
0901 , 0910 , 0913 0901-用于半导体、集成电路和微电子产品的物理和电气属性测试和检查的计算机软件,
0901-用于半导体、集成电路和相关微电子产品制造行业的过程控制和效益管理的计算机软件,
0901-用于提供关于检测和量测工具性能的分析数据的计算机软件,
0901-计算机硬件,
0910-集束型设备，即半导体晶片形状量测以及晶片缺陷检测用电子设备,
0913-集束型设备，即半导体晶片形状量测以及晶片缺陷检测用电子设备
0901-用于半导体、集成电路和微电子产品的物理和电气属性测试和检查的计算机软件;0901-用于半导体、集成电路和相关微电子产品制造行业的过程控制和效益管理的计算机软件;0901-用于提供关于检测和量测工具性能的分析数据的计算机软件;0901-计算机硬件;0910-集束型设备，即半导体晶片形状量测以及晶片缺陷检测用电子设备;0913-集束型设备，即半导体晶片形状量测以及晶片缺陷检测用电子设备 - 2015-10-06-2025-10-06
- KLA-TENCOR CORPORATION
- 加利福尼亚米尔皮塔斯************
- 国际局
2019-02-04 国际注销 | 申请收文
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2015-11-19 商标注册申请 | 申请收文
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