【JEC】商标详情
- JEC
- G863776
- 已销亡
- 普通商标
- 2005-11-04
0744 0744-半导体制造设备，半导体检测设备，半导体高温老化检测设备
0744-半导体制造设备，半导体检测设备，半导体高温老化检测设备 - 2005-08-12-2015-08-12
- JAPAN ENGINEERING CO.，LTD.
- 神奈川川崎市************
- 国际局
2016-03-08 国际注销 | 申请收文
2013-11-25 国际变更 | 申请核准审核
2013-05-07 商标注册申请 | 国际变更中
2012-06-25 出具商标注册证明 | 打印注册证明
2012-06-25 商标注册申请 | 开具注册证明完成
2012-05-29 出具商标注册证明 | 申请收文
2012-05-29 商标注册申请 | 出具商标注册证明中
2012-05-29 商标注册申请 | 开具注册证明待审中
2006-06-22 商标注册申请 | 国际领土延伸完成
2006-06-22 领土延伸 | 审查
2005-11-04 领土延伸 | 申请收文
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- G863776
- 已销亡
- 普通商标
- 2005-11-04
0744 0744-半导体制造设备， 半导体检测设备，半导体高温老化检测设备
0744-半导体制造设备，半导体检测设备，半导体高温老化检测设备 - 2005-08-12-2015-08-12
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- 神奈川川崎市************
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2012-05-29 商标注册申请 | 开具注册证明待审中
2006-06-22 商标注册申请 | 国际领土延伸完成
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2005-11-04 领土延伸 | 申请收文
