【MAROPTO】商标详情
- MAROPTO
- G1302628
- 已注册
- 普通商标
- 2016-07-14
0901 , 0910 , 0911 0901-用于分析干涉图的计算机程序,即,用于条纹干涉仪、移相干涉仪和载波条纹干涉仪的程序,上述仪器都用在实验室和车间条件下,
0901-用于在实验室及车间条件下获取干涉图的计算机程序,
0901-用于材料表征的计算机程序,即,用于表征粗糙度和用于识别不均匀性类别的计算机程序,
0901-用于非球面表面测量的计算机程序,即,用于产生辅助软件和分析干涉图的程序,
0910-电子-光学测量设备和仪器的配件,即,测量支架(垂直的和水平的),样本2D(二维)和3D(三维)扫描用机械臂,固定架,定位装置,观测台,光学及目标镜头,扩束镜,平面镜,球体,滤光器,衰减滤光器,反光镜和标准样品,
0910-电子-光学测量设备和仪器(非用于天文学的),即,干涉仪,基于区域扫描的光学2D(二维)和3D(三维)坐标测量装置,基于散射光的材料检测测量装置,上述设备和仪器用于光学及高精度行业,
0911-电子-光学测量设备和仪器的配件,即,测量支架(垂直的和水平的),样本2D(二维)和3D(三维)扫描用机械臂,固定架,定位装置,观测台,光学及目标镜头,扩束镜,平面镜,球体,滤光器,衰减滤光器,反光镜和标准样品,
0911-电子-光学测量设备和仪器(非用于天文学的),即,干涉仪,基于区域扫描的光学2D(二维)和3D(三维)坐标测量装置,基于散射光的材料检测测量装置,上述设备和仪器用于光学及高精度行业
0901-用于分析干涉图的计算机程序,即,用于条纹干涉仪、移相干涉仪和载波条纹干涉仪的程序,上述仪器都用在实验室和车间条件下;0901-用于在实验室及车间条件下获取干涉图的计算机程序;0901-用于材料表征的计算机程序,即,用于表征粗糙度和用于识别不均匀性类别的计算机程序;0901-用于非球面表面测量的计算机程序,即,用于产生辅助软件和分析干涉图的程序;0910-电子-光学测量设备和仪器的配件,即,测量支架(垂直的和水平的),样本2D(二维)和3D(三维)扫描用机械臂,固定架,定位装置,观测台,光学及目标镜头,扩束镜,平面镜,球体,滤光器,衰减滤光器,反光镜和标准样品;0910-电子-光学测量设备和仪器(非用于天文学的),即,干涉仪,基于区域扫描的光学2D(二维)和3D(三维)坐 标测量装置,基于散射光的材料检测测量装置,上述设备和仪器用于光学及高精度行业;0911-电子-光学测量设备和仪器的配件,即,测量支架(垂直的和水平的),样本2D(二维)和3D(三维)扫描用机械臂,固定架,定位装置,观测台,光学及目标镜头,扩束镜,平面镜,球体,滤光器,衰减滤光器,反光镜和标准样品;0911-电子-光学测量设备和仪器(非用于天文学的),即,干涉仪,基于区域扫描的光学2D(二维)和3D(三维)坐标测量装置,基于散射光的材料检测测量装置,上述设备和仪器用于光学及高精度行业 - 2016-04-22-2026-04-22
- CARL MAHR HOLDING GMBH
- 下萨克森哥廷根************
- 国际局
2017-04-11 领土延伸 | 审查
2016-07-14 商标注册申请 | 申请收文
2016-07-14 领土延伸 | 申请收文
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0901 , 0910 , 0911 0901-用于分析干涉图的计算机程序,即,用于条纹干涉仪、移相干涉仪和载波条纹干涉仪的程序,上述仪器都用在实验室和车间条件下,
0901-用于在实验室及车间条件下获取干涉图的计算机程序,
0901-用于材料表征的计算机程序,即,用于表征粗糙度和用于识别不均匀性类别的计算机程序,
0901-用于非球面表面测量的计算机程序,即,用于产生辅助软件和分析干涉图的程序,
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0911-电子-光学测量设备和仪器(非用于天文学的),即,干涉仪,基于区域扫描的光学2D (二维)和3D(三维)坐标测量装置,基于散射光的材料检测测量装置,上述设备和仪器用于光学及高精度行业
0901-用于分析干涉图的计算机程序,即,用于条纹干涉仪、移相干涉仪和载波条纹干涉仪的程序,上述仪器都用在实验室和车间条件下;0901-用于在实验室及车间条件下获取干涉图的计算机程序;0901-用于材料表征的计算机程序,即,用于表征粗糙度和用于识别不均匀性类别的计算机程序;0901-用于非球面表面测量的计算机程序,即,用于产生辅助软件和分析干涉图的程序;0910-电子-光学测量设备和仪器的配件,即,测量支架(垂直的和水平的),样本2D(二维)和3D(三维)扫描用机械臂,固定架,定位装置,观测台,光学及目标镜头,扩束镜,平面镜,球体,滤光器,衰减滤光器,反光镜和标准样品;0910-电子-光学测量设备和仪器(非用于天文学的),即,干涉仪,基于区域扫描的光学2D(二维)和3D(三维)坐标测量装置,基于散射光的材料检测测量装置,上述设备和仪器用于光学及高精度行业;0911-电子-光学测量设备和仪器的配件,即,测量支架(垂直的和水平的),样本2D(二维)和3D(三维)扫描用机械臂,固定架,定位装置,观测台,光学及目标镜头,扩束镜,平面镜,球体,滤光器,衰减滤光器,反光镜和标准样品;0911-电子-光学测量设备和仪器(非用于天文学的),即,干涉仪,基于区域扫描的光学2D(二维)和3D(三维)坐标测量装置,基于散射光的材料检测测量装置,上述设备和仪器用于光学及高精度行业 - 2016-04-22-2026-04-22
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