【拓纬】商标详情
- 拓纬
- 56445760
- 已注册
- 普通商标
- 2021-05-27
4209 , 4214 , 4220 4209-产品质量检测,
4209-半导体加工技术研究,
4209-半导体设计,
4209-技术研究,
4209-替他人研究和开发新产品,
4209-能源研究,
4209-集成电路设计,
4214-材料测试,
4220-信息技术咨询服务,
4220-计算机软件开发
4209-产品质量检测;4209-半导体加工技术研究;4209-半导体设计;4209-技术研究;4209-替他人研究和开发新产品;4209-能源研究;4209-集成电路设计;4214-材料测试;4220-信息技术咨询服务;4220-计算机软件开发 - 1767
- 2021-11-13
- 1779
- 2022-02-14
- 2022-02-14-2032-02-13
- 深圳市威兆半导体股份有限公司
- 广东省深圳市************
- 深圳市嘉勤知识产权代理有限公司
2022-11-01 变更商标申请人/注 册人名义/地址 | 核准证明打印发送
2022-07-16 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2022-07-14 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2022-03-10 商标注册申请 | 注册证发文
2021-10-29 商标注册申请 | 等待驳回复审
2021-09-03 商标注册申请 | 驳回通知发文
2021-08-07 商标注册申请 | 受理通知书发文
2021-07-22 商标注册申请 | 等待补正回文
2021-07-22 商标注册申请 | 补正回文
2021-07-01 商标注册申请 | 补正通知发文
2021-05-27 商标注册申请 | 申请收文
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4209 , 4214 , 4220 4209-产品质量检测,
4209-半导体加工技术研究,
4209-半导体设计,
4209-技术研究,
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4209-集成电路设计,
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4220-信息技术咨询服务,
4220-计算机软件开发
4209-产品质量检测;4209-半导体加工技术研究;4209-半导体设计;4209-技术研究;4209-替他人研究和开发新产品;4209-能源研究;4209-集成电路设计;4214-材料测试;4220-信息技术咨询服务;4220-计算机软件开发 - 1767
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