【EBT】商标详情
- EBT
- G1829488
- 待审中
- 普通商标
- 2024-12-19
-光学缺陷检查装置，即用于检查和分析集成在玻璃、半导体或其他介电材料制基板中或基板上的电子电路的电子显微镜和电子束设备
-光学缺陷检查装置，即用于检查和分析集成在玻璃、半导体或其他介电材料制基板中或基板上的电子电路的电子显微镜和电子束设备 - APPLIED MATERIALS， INC.
- 加利福尼亚圣克拉拉************
- 国际局
2025-06-01 驳回复审 | 申请收文
2025-05-21 领土延伸 | 驳回电子发文
2024-12-19 领土延伸 | 申请收文
- EBT
- G1829488
- 待审中
- 普通商标
- 2024-12-19
-光学缺陷检查装置，即用于检查和分析集成在玻璃、半导体或其他介电材料制基板中或基板上的电子电路的电子显微镜和电子束设备
-光学缺陷检查装置，即用于检查和分析集成在玻璃、半导体或其他介电材料制基板中或基板上的电子电路的电子显微镜和电子束设备 - APPLIED MATERIALS， INC.
- 加利福尼亚圣克拉拉************
- 国际局
2025-06-01 驳回复审 | 申请收文
2025-05-21 领土延伸 | 驳回电子发文
2024-12-19 领土延伸 | 申请收文
