【】商标详情
- 87376101
- 已注册
- 普通商标
- 2025-09-01
0901 , 0910 , 0911 0901-处理半导体晶片用计算机软件,
0910-半导体检测机,
0910-半导体测试设备,
0910-测量用激光器,
0910-激光测量仪器,
0911-光学仪器,
0911-物镜（光学）
0901-处理半导体晶片用计算机软件;0910-半导体检测机;0910-半导体测试设备;0910-测量用激光器;0910-激光测量仪器;0911-光学仪器;0911-物镜（光学） - 1961
- 2025-11-27
- 1973
- 2026-02-28
- 2026-02-28-2036-02-27
- 上海玻纳刻科技有限公司
- 上海市上海市************
- 上海思微知识产权代理事务所（普通合伙）
2025-10-10 商标注 册申请 | 受理通知书发文
2025-09-18 商标注册申请 | 申请收文
2025-09-01 商标注册申请 | 申请收文
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0901 , 0910 , 0911 0901-处理半导体晶片用计算机软件,
0910-半导体检测机,
0910-半导体测试设备,
0910-测量用激光器,
0910-激光测量仪器,
0911-光学仪器,
0911-物镜（光学）
0901-处理半导体晶片用计算机软件;0910-半导体检测机;0910-半导体测试设备;0910-测量用激光器;0910-激光测量仪器;0911-光学仪器;0911-物镜（光学） - 1961
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