【WAFQSCAN】商标详情
- WAFQSCAN
- G1576692
- 已注册
- 普通商标
- 2021-02-18
0910 , 0913 0910-测量仪器，尤指半导体晶圆和薄膜层的表面检查仪器和控制仪器,
0913-测量仪器，尤指半导体晶圆和薄膜层的表面检查仪器和控制仪器
0910-测量仪器，尤指半导体晶圆和薄膜层的表面检查仪器和控制仪器;0913-测量仪器，尤指半导体晶圆和薄膜层的表面检查仪器和控制仪器 - 2020-12-10-2030-12-10
- ISRA VISION AG
- 黑森达姆施塔特************
- 国际局
2021-06-02 领土延伸 | 审查
2021-02-18 商标注册申请 | 申请收文
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- G1576692
- 已注册
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- 2021-02-18
0910 , 0913 0910-测量仪器，尤指半导体晶圆和薄膜层的表面检查仪器和控制仪器,
0913-测量仪器，尤指半导体晶圆和薄膜层的表面检查仪器和控制仪器
0910-测量仪器，尤指半导体晶圆和薄膜层的表面检查仪器和控制仪器;0913-测量仪器，尤指半导体晶圆和薄膜层的表面 检查仪器和控制仪器 - 2020-12-10-2030-12-10
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- 黑森达姆施塔特************
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