【KYEC】商标详情
- KYEC
- 3133245
- 已注册
- 普通商标
- 2002-04-02
4209 , 4214 , 4220 4209-半导体集成电路之设计服务,
4214-半导体导线架扫描测试服务,
4214-半导体晶圆、半导体晶片之测试服务,
4220-半导体集成电路测试程式之设计开发服务
4209-半导体集成电路之设计服务;4214-半导体导线架扫描测试服务;4214-半导体晶圆、半导体晶片之测 试服务;4220-半导体集成电路测试程式之设计开发服务 - 875
- 2003-04-14
- 887
- 2003-07-14
- 2023-07-14-2033-07-13
- 京元电子股份有限公司
- 台湾省新竹市************
- 北京律盟知识产权代理有限责任公司
2023-02-08 商标续展 | 核准通知打印发送
2023-01-15 商标续展 | 申请收文
2015-11-11 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 核准证明打印发送
2015-11-04 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2014-04-21 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 打印受理通知
2014-04-04 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2014-03-10 变更商标代理人 | 打印核准变更代理人通知书
2013-12-30 商标续展 | 打印核准续展注册商标证明
2013-05-27 变更商标代理人 | 打印受理通知
2013-04-15 变更商标代理人 | 申请收文
2013-04-15 商标续展 | 申请收文
2003-08-05 商标注册申请 | 打印注册证
2002-05-22 商标注册申请 | 打印受理通知
2002-05-22 商标注册申请 | 等待打印受理通知
2002-04-02 商标注册申请 | 申请收文
- KYEC
- 3133245
- 已注册
- 普通商标
- 2002-04-02
4209 , 4214 , 4220 4209-半导体集成电路之设计服务,
4214-半导体导线架扫描测试服务,
4214-半导体晶圆、半导体晶片之测试服务,
4220-半导体集成电路测试程式之设计开发服务
4209-半导体集成电路之设计服务;4214-半导体导线架扫描测试服务;4214-半导体晶圆、半导体晶片之测试服务;4220-半导体集成电路测试程式之设计开发服务 - 875
- 2003-04-14
- 887
- 2003-07-14
- 2023-07-14-2033-07-13
- 京元电子股份有限公司
- 台湾省新竹市************
- 北京律盟知识产权代理有限责任公司
2023-02-08 商标续展 | 核准通知打印发送
2023-01-15 商标续展 | 申请收文
2015-11-11 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 核准证明打印发送
2015-11-04 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2014-04-21 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 打印受理通知
2014-04-04 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2014-03-10 变 更商标代理人 | 打印核准变更代理人通知书
2013-12-30 商标续展 | 打印核准续展注册商标证明
2013-05-27 变更商标代理人 | 打印受理通知
2013-04-15 变更商标代理人 | 申请收文
2013-04-15 商标续展 | 申请收文
2003-08-05 商标注册申请 | 打印注册证
2002-05-22 商标注册申请 | 打印受理通知
2002-05-22 商标注册申请 | 等待打印受理通知
2002-04-02 商标注册申请 | 申请收文
