【PROFILM3D】商标详情
- PROFILM3D
- 19807904
- 已驳回
- 普通商标
- 2016-04-29
-光学薄膜和表面测量仪器，即结合计算机、分光仪、摄影机、灯、光纤电缆、透镜和机器翻译组件的系统，作为整体出售，用于测量绝缘体、半导体及金属材料的性能，例如厚度、沉积率、折射率和表面轮廓
-光学薄膜和表面测量仪器，即结合计算机、分光仪、摄影机、灯、光纤电缆、透镜和机器翻译组件的系统，作为整体出售，用于测量绝缘体、半导体及金属材料的性能，例如厚度、沉积率、折射率和表面轮廓 - 美商菲乐股份有限公司
- 加利福尼亚圣迭戈************
- 北京市集佳律师事务所
2017-02-22 商标注册申请 | 等待不予受理通知书发文
2017-02-04 商标注册申请 | 等待补正回文
2016-11-29 商标注册申请 | 等待补正通知发文
2016-04-29 商标注册申请 | 申请收文
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- 2016-04-29
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-光学薄膜和表面测量仪器，即结合计算机、分光仪、摄影机、灯、光纤电缆、透镜和机器翻译组件的系统，作为整体出售，用于测量绝缘体、半导体及金属材料的性能，例如厚度、沉积率、折射率和表面轮廓 - 美商菲乐股份有限公司
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