【IRARCHER】商标详情
- IRARCHER
- G1534594
- 已注册
- 普通商标
- 2020-06-11
0901 , 0909 , 0910 , 0913 0901-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器,
0901-用于半导体和集成电路制造中事件预测的已录制的计算机软件,
0901-计算机硬件以及可下载和预先录制的计算机软件,上述产品全部用于测试、检查、描述和预测半导体、集成电路、微电子产品、晶片和光刻掩模的物理和电学特性,
0901-计算机硬件以及可下载和预先录制的计算机软件,上述产品全部用于用于管理和控制半导体、集成电路和相关微 电子产品制造工业中的半导体和集成电路的制造过程和产量,
0909-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器,
0910-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器,
0913-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器
0901-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器;0901-用于半导体和集成电路制造中事件预测的已录制的计算机软件;0901-计算机硬件以及可下载和预先录制的计算机软件,上述产品全部用于测试、检查、描述和预测半导体、集成电路、微电子产品、晶片和光刻掩模的物理和电学特性;0901-计算机硬件以及可下载和预先录制的计算机软件,上述产品全部用于用于管理和控制半导体、集成电路和相关微电子产品制造工业中的半导体和集成电路的制造过程和产量;0909-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器;0910-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器;0913-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器 - 2020-04-23-2030-04-23
- KLA CORPORATION
- 加利福尼亚米尔皮塔斯************
- 国际局
2020-10-14 领土延伸 | 审查
2020-06-11 领土延伸 | 申请收文
- IRARCHER
- G1534594
- 已注册
- 普通商标
- 2020-06-11
0901 , 0909 , 0910 , 0913 0901-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器,
0901-用于半导体和集成电路制造中事件预测的已录制的计算机软件,
0901-计算机硬件以及可下载和预先录制的计算机软件,上述产品全部用于测试、检查、描述和预测半导体、集成电路、微电子产品、晶片和光刻掩模的物理和电学特性,
0901-计算机硬件以及可下载和预先录制的计算机软件,上述产品全部用于用于管理和控制半导体、集成电路和相关微电子产品制造工业中的半导体和集成电路的制造过程和产量,
0909-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器,
0910-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器,
0913-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器
0901-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器;0901-用于半导体和集成电路制造中事件预测的已录制的计算机软件;0901-计算机硬件以及可下载和预先录制的计算机软件,上述产品全部用于测试、检查、描述和预测半导体、集成电路、微电子产品、晶片和光刻掩模的物理和电学特性;0901-计算机硬件以及可下载和预先录制的计算机软件,上述产品全部用于用于管理和控制半导体、集成电路和相关微电子产品制造工业中的半导体和集成电路的制造过程和产量;0909-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器;0910-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器;0913-成像计量工具,即用于测试、检查和描述半导体和集成电路物理特性的科学和电子成像仪器 - 2020-04-23-2030-04-23
- KLA CORPORATION
- 加利福尼亚米尔皮塔斯************
- 国际局
2020-10-14 领土延伸 | 审查
2020-06-11 领土延伸 | 申请收文