【VERAFLEX】商标详情
- VERAFLEX
- G887998
- 已注册
- 普通商标
- 2006-08-07
0910 0910-由用于测量半导体生产流程中使用的物理合成物和薄膜厚度的计算机硬件和X光设备构成的度量衡系统
0910-由用于测量半导体生产流程中使用的物理合成物和薄膜厚度的计算机硬件和X光设备构成的度量衡系统 - 2016-05-26-2026-05-26
- Nova Measuring Instruments， Inc.
- 加利福尼亚圣克拉拉************
- 国际局
2020-12-30 撤回撤销三年不使用申请 | 排版送达公告(连续三年不使用撤销申请的结案通知)
2020-12-11 撤回撤销三年不使用申请 | 结案通知书发文
2020-12-10 撤回撤销三年不使用申请 | 有退信(连续三年不使用撤销申请的结案通知)
2020-12-10 撤回撤销三年不使用申请 | 退信信息录入(连续三年不使用撤销申请的结案通知)
2020-09-25 撤销连续三年停止使用注册商标 | 受理通知书发文
2020-09-21 撤回撤销三年不使用申请 | 申请收文
2020-09-16 撤销连续三年停止使用注册商标 | 提供证明通知发文
2020-06-28 撤销连续三年停止使用注册商标 | 申请收文
2016-12-30 国际续展 | 申请核准审核
2016-06-20 国际续展 | 申请收文
2007-04-17 领土延伸 | 审查
2006-08-07 领土延伸 | 申请收文
送达公告 2020-12-27 第1725期 查看公告
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- G887998
- 已注册
- 普通商标
- 2006-08-07
0910 0910-由用于测量半导体生产流程中使用的物理合成物和薄膜厚度的计算机硬件和X光设备构成的度量衡系统
0910-由用于测量半导体生产流程中使用的物理合成物和薄膜厚度的计算机硬件和X光设备构成的度量衡系统 - 2016-05-26-2026-05-26
- Nova Measuring Instruments， Inc.
- 加利福尼亚圣克拉拉************
- 国际局
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2020-12-11 撤回撤销三年不使用申请 | 结案通知书发文
2020-12-10 撤回撤销三年不使用申请 | 有退信(连续三年不使用撤销申请的结案通知)
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2020-09-25 撤销连续三年停止使用注册商标 | 受理通知书发文
2020-09-21 撤回撤销三年不使用申请 | 申请收文
2020-09-16 撤销连续三年停止使用注册商标 | 提供证明通知发文
2020-06-28 撤销连续三年停止使用注册商标 | 申请收文
2016-12-30 国际续展 | 申请核准审核
2016-06-20 国际续展 | 申请收文
2007-04-17 领土延伸 | 审查
2006-08-07 领土延伸 | 申请收文
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