【ARIAN】商标详情
- ARIAN
- G1778847
- 待审中
- 普通商标
- 2024-03-07
0910 0910-半导体晶片检测系统，其用于检查半导体晶片的暗场缺陷，包括颗粒、划痕和凸起
0910-半导体晶片检测系统，其用于检查半导体晶片的暗场缺陷，包括颗粒、划痕和凸起 - APPLIED MATERIALS， INC.
- 加利福尼亚圣克拉拉************
- 国际局
2024-03-07 领土延伸 | 申请收文
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- 2024-03-07
0910 0910-半导体晶片检测系统，其用于检查半导体晶片的暗场缺陷，包括颗粒、划痕和凸起
0910-半导体晶片检测系统，其用于检查半导体晶片的暗场缺陷，包括颗粒、划痕和凸起 - APPLIED MATERIALS， INC.
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