【YASC】商标详情
- YASC
- 65933475
- 已注册
- 普通商标
- 2022-07-13
4209 , 4214 , 4220 4209-为他人研究和开发新产品,
4209-半导体加工技术研究,
4209-半导体封装设计,
4209-半导体设计,
4209-技术研究,
4209-质量检测,
4209-集成电路设计,
4214-产品测试,
4214-材料测试,
4220-计算机硬件和软件的设计与开发
4209-为他人研究和开发新产品;4209-半导体加工技术研究;4209-半导体封装 设计;4209-半导体设计;4209-技术研究;4209-质量检测;4209-集成电路设计;4214-产品测试;4214-材料测试;4220-计算机硬件和软件的设计与开发 - 1811
- 2022-10-13
- 1823
- 2023-01-14
- 2023-01-14-2033-01-13
- 安徽长飞先进半导体股份有限公司
- 安徽省芜湖市************
- 北京善任知识产权代理有限公司
2024-11-30 变更商标申请人/ 注册人名义/地址 | 核准证明打印发送
2024-11-13 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2023-08-03 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 核准证明打印发送
2023-07-30 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2023-02-08 商标注册申请 | 注册证发文
2023-02-08 商标注册申请 | 等待注册证发文
2022-07-26 商标注册申请 | 受理通知书发文
2022-07-26 商标注册申请 | 等待受理通知书发文
2022-07-13 商标注册申请 | 申请收文
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4209 , 4214 , 4220 4209-为他人研究和开发新产品,
4209-半导体加工技术研究,
4209-半导体封装设计,
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4209-技术研究,
4209-质量检测,
4209-集成电路设计,
4214-产品测试,
4214-材料测试,
4220-计算机硬件和软件的设计与开发
4209-为他人研究和开发新产品;4209-半导体加工技术研究;4209-半导体封装设计;4209-半导体设计;4209-技术研究;4209-质量检测;4209-集成电路设计;4214-产品测试;4214-材料测试;4220-计算机硬件和软件的设计与开发 - 1811
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