【HAWKEYE】商标详情
- HAWKEYE
- G1669317
- 已注册
- 普通商标
- 2022-06-30
0744 0744-半导体制造设备，即用于检测形貌缺陷的暗场晶片检查系统
0744-半导体制造设备，即用于检测形貌缺陷的暗场晶片检查系统 - APPLIED MATERIALS， INC.
- 加利福尼亚圣克拉拉************
- 国际局
2023-07-10 驳回复审 | 实审裁文发文
2022-10-25 驳回复审 | 申请收文
2022-10-02 领土延伸 | 等待驳回电子发文
2022-10-02 领土延伸 | 驳回电子发文
2022-06-30 商标注册申请 | 申请收文
2022-06-30 领土延伸 | 申请收文
- HAWKEYE
- G1669317
- 已注册
- 普通商标
- 2022-06-30
0744 0744-半导体制造设备，即用于检测形貌缺陷的暗场晶片检查系统
0744-半导体制造设备，即用于检测形貌缺陷的暗场晶片检查系统 - APPLIED MATERIALS， INC.
- 加利福尼亚圣克拉拉************
- 国际局
2023-07-10 驳回复审 | 实审裁文发文
2022-10-25 驳回复审 | 申请收文
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2022-10-02 领土延伸 | 驳回电子发文
2022-06-30 商标注册申请 | 申请收文
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