【XEANOVA】商标详情
- XEANOVA
- G1230564
- 已注册
- 普通商标
- 2015-01-01
0901 , 0904 , 0905 , 0906 , 0907 , 0910 , 0913 0901-数据处理设备,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的装置,
0901-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备,
0901-计算机和计算机软件,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的设备和机器,
0904-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅 晶片的机器和设备,
0905-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备,
0906-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备,
0907-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备,
0910-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备,
0913-硅晶片
0901-数据处理设备,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的装置;0901-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备;0901-计算机和计算机软件,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的设备和机器;0904-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备;0905-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备;0906-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备;0907-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备;0910-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备;0913-硅晶片 - 2024-08-21-2034-08-21
- 国际局
2024-09-02 国际续展 | 申请核准审核
2024-08-18 国际续展 | 申请收文
2019-04-19 撤销连续三年停止使用注册商标 | 不予受理通知书发文
2018-11-22 撤销连续三年停止使用注册商标 | 申请收文
2015-11-11 商标注册申请 | 审查
2015-11-11 商标注册申请 | 领土延伸完成
2015-11-11 领土延伸 | 审查
2015-01-01 商标注册申请 | 申请收文
2015-01-01 商标注册申请 | 领土延伸中
2015-01-01 领土延伸 | 申请收文
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- 普通商标
- 2015-01-01
0901 , 0904 , 0905 , 0906 , 0907 , 0910 , 0913 0901-数据处理设备,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的装置,
0901-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备,
0901-计算机和计算机软件,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的设备和机器,
0904-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备,
0905-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备,
0906-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备,
0907-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备,
0910-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备,
0913-硅晶片
0901-数据处理设备,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的装置;0901-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备;0901-计算机和计算机软件,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的设备和机器;0904-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备;0905-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备;0906-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备;0907-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备;0910-用于测量、信号、检验(监督)的设备和仪器,尤其是用于加工玻璃、金属带材、塑料薄膜以及硅晶片的机器和设备;0913-硅晶片 - 2024-08-21-2034-08-21
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2019-04-19 撤销连续三年停止使用注册商标 | 不予受理通知书发文
2018-11-22 撤销连续三年停止使用注册商标 | 申请收文
2015-11-11 商标注册申请 | 审查
2015-11-11 商标注册申请 | 领土延伸完成
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2015-01-01 商标注册申请 | 申请收文
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