【CS MICROELECTRONICS CO.，LTD】商标详情
- CS MICROELECTRONICS CO.，LTD
- 55733663
- 已注册
- 普通商标
- 2021-04-30
4209 , 4214 , 4216 , 4220 4209-半导体加工技术研究,
4209-半导体封装设计,
4209-半导体的设计,
4209-技术研究,
4209-质量检测,
4209-集成电路设计,
4214-材料测试,
4216-工业品外观设计,
4220-电子数据存储,
4220-计算机系统设计
4209-半导体加工技术研究;4209-半导体封装设计;4209-半导体的设计;4209-技术研究;4209-质量检测;4209-集成电路设计;4214-材料测试;4216-工业品外观设计;4220-电子数据存储;4220-计算机系统设计 - 1803
- 2022-08-13
- 1815
- 2022-11-14
- 2022-11-14-2032-11-13
- 威科赛乐微电子股份有限公司
- 重庆市重庆市************
- 北京集佳知识产权代理有限公司
2025-12-22 撤销连续三年停止使用注册商标 | 受理通知书
2025-11-26 撤销连续三年停止使用注册商标 | 申请收文
2022-12-22 驳回复审 | 打印注册证
2022-12-22 驳回复审 | 等待打印注册证
2022-08-04 驳回复审 | 实审裁文发文
2022-08-04 驳回复审 | 等待实审裁文发文
2022-01-07 驳回复审 | 评审分案
2021-09-07 驳回复审 | 申请收文
2021-08-10 商标注册申请 | 等待驳回通知发文
2021-08-10 商标注册申请 | 驳回通知发文
2021-06-03 商标注册申请 | 受理通知书发文
2021-06-03 商标注册申请 | 等待受理通知书发文
2021-04-30 商标注册申请 | 申请收文
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- 55733663
- 已注册
- 普通商标
- 2021-04-30
4209 , 4214 , 4216 , 4220 4209-半导体加工技术研究,
4209-半导体封装设计,
4209-半导体的设计,
4209-技术研究,
4209-质量检测,
4209-集成电路设计,
4214-材料测试,
4216-工业品外观设计,
4220-电子数据存储,
4220-计算机系统设计
4209-半导体加工技术研究;4209-半导体封装设计;4209-半导体的设计;4209-技术研究;4209-质量检测;4209-集成电路设计;4214-材料测试;4216-工业品外观设计;4220-电子数据存储;4220-计算机系统设计 - 1803
- 2022-08-13
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- 2022-11-14
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2025-12-22 撤销连续三年停止使用注册商标 | 受理通知书
2025-11-26 撤销连续三年停止使用注册商标 | 申请收文
2022-12-22 驳回复审 | 打印注册证
2022-12-22 驳回复审 | 等待打印注册证
2022-08-04 驳回复审 | 实审裁文发文
2022-08-04 驳回复审 | 等待实审裁文发文
2022-01-07 驳回复审 | 评审分案
2021-09-07 驳回复审 | 申请收文
2021-08-10 商标注册申请 | 等待驳回通知发文
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2021-06-03 商标注册申请 | 受理通知书发文
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2021-04-30 商标注册申请 | 申请收文
