【HIENTECH】商标详情
- HIENTECH
- 10272997
- 已销亡
- 普通商标
- 2011-12-06
4209 , 4210 4209-工业废物勘测和研究,
4209-污染预防测试或研究,
4209-环境保护领域研究,
4209-环境研究,
4210-地下水污染勘测,
4210-水质勘测,
4210-环境影响勘测
4209-工业废物勘测和研究;4209-污染预防测试或研究;4209-环境保护领域研究;4209-环境研究;4210-地下水污染勘测;4210-水质勘测;4210-环境影响勘测 - 1337
- 2012-11-27
- 1349
- 2013-02-28
- 2013-02-28-2023-02-27
- LG电子株式会社
- 首尔特别市首尔************
- 北京集佳知识产权代理有限公司
2024-04-15 期满未续展注销商标 | 排版未续展注销公告
2024-04-10 期满未续展注销商标 | 申请收文
2013-06-03 商标注册申请 | 注册申请部分驳回
2013-03-18 商标注册申请 | 商标已注册
2013-03-18 商标注册申请 | 打印注册证
2012-10-19 商标注册申请 | 注册申请初步审定
2012-10-15 商标注册申请 | 注册申请部分驳回
2012-08-20 商标注册申请 | 打印驳回或部分驳回通知书
2012-08-20 商标注册申请 | 打印驳回通知
2012-04-16 商标注册申请 | 打印受理通知
2011-12-06 商标注册申请 | 商标注册申请中
2011-12-06 商标注册申请 | 申请收文
- HIENTECH
- 10272997
- 已销亡
- 普通商标
- 2011-12-06
4209 , 4210 4209-工业废物勘测和研究,
4209-污染预防测试或研究,
4209-环境保护领域研究,
4209-环境研究,
4210-地下水污染勘测,
4210-水质勘测,
4210-环境影响勘测
4209-工业废物勘测和研究;4209-污染预防测试或研究;4209-环境保护领域研究;4209-环境研究;4210-地下水污染勘测;4210-水质勘测;4210-环境影响勘测 - 1337
- 2012-11-27
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- 2013-02-28
- 2013-02-28-2023-02-27
- LG电子株式会社
- 首尔特别市首尔************
- 北京集佳知识产权代理有限公司
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2024-04-10 期满未续展注销商标 | 申请收文
2013-06-03 商标注册申请 | 注册申请部分驳回
2013-03-18 商标注册申请 | 商标已注册
2013-03-18 商标注册申请 | 打印注册证
2012-10-19 商标注册申请 | 注册申请初步审定
2012-10-15 商标注册申请 | 注册申请部分驳回
2012-08-20 商标注册申请 | 打印驳回或部分驳回通知书
2012-08-20 商标注册申请 | 打印驳回通知
2012-04-16 商标注册申请 | 打印受理通知
2011-12-06 商标注册申请 | 商标注册申请中
2011-12-06 商标注册申请 | 申请收文
