【ENVIRO】商标详情
- ENVIRO
- G1291854
- 待审中
- 普通商标
- 2016-03-10
0901 , 0910 , 0913 , 0914 0901-使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的数据处理计算机设备和软件,
0901-计算机程序,即使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的用于传输、处理、编辑以及分析数据的计算机程序以及用于控制科学设备和仪器的计算机程序,
0910-使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的测量器械和仪器,
0910-探测仪和传感器,特别是用于科学目的探测仪和传感器,尤其是用于电子光谱和气体分析以及测量设备和仪器的探测仪和传感器,
0910-用于科学设备和仪器以及用于测量设备和仪器的附加零部件,尤其是用于扫描探针式显微镜的测定部件,
0910-科学设备和仪器,特别是用于电子光谱、离子光谱以及气体和元素分析的设备和仪器,
0910-紫外光、X-射线和电子激励源,
0913-探测仪和传感器,特别是用于科学目的探测仪和传感器,尤其是用于电子光谱和气体分析以及测量设备和仪器的探测仪和传感器,
0914-电气和电子控制设备和仪器,即使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的用于控制科学设备和仪器的
0901-使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的数据处理计算机设备和软件;0901-计算机程序,即使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的用于传输、处理、编辑以及分析数据的计算机程序以及用于控制科学设备和仪器的计算机程序;0910-使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的测量器械和仪器;0910-探测仪和传感器,特别是用于科学目的探测仪和传感器,尤其是用于电子光谱和气体分析以及测量设备和仪器的探测仪和传感器;0910-用于科学设备和仪器以及用于测量设备和仪器的附加零部件,尤其是用于扫描探针式显微镜的测定部件;0910-科学设备和仪器,特别是用于电子光谱、离子光谱以及气体和元素分析的设备和仪器;0910-紫外光、X-射线和电子激励源;0913-探测仪和传感器,特别是用于科学目的探测仪和传感器,尤其是用于电子光谱和气体分析以及测量设备和仪器的探测仪和传感器;0914-电气和电子控制设备和仪器,即使用基于电子、离子和光子的分光镜和 显微镜方法用于材料分析的用于控制科学设备和仪器的 - 2015-11-28-2025-11-28
- SPECS SURFACE NANO ANALYSIS GMBH
- 柏林柏林************
2017-05-23 国际部分注销 | 申请收文
2016-11-28 领土延伸 | 等待驳回电子发文
2016-11-28 领土延伸 | 驳回电子发文
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0901 , 0910 , 0913 , 0914 0901-使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的数据处理计算机设备和软件,
0901-计算机程序,即使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的用于传输、处理、编辑以及分析数据的计算机程序以及用于控制科学设备和仪器的计算机程序,
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0913-探测仪和传感器,特别是用于科学目的探测仪和传感器,尤其是用于电子光谱和气体分析以及测量设备和仪器的探测仪和传感器,
0914-电气和电子控制设备和仪器,即使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的用于控制科学设备和仪器的
0901-使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的数据处理计算机设备和软件;0901-计算机程序,即使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的用于传输、处理、编辑以及分析数据的计算机程序以及用于控制科学设备和仪器的计算机程序;0910-使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的测量器械和仪器;0910-探测仪和传感器,特别是用于科学目的探测仪和传感器,尤其是用于电子光谱和气体分析以及测量设备和仪器的探测仪和传感器;0910-用于科学设备和仪器以及用于测量设备和仪器的附加零部件,尤其是用于扫描探针式显微镜的测定部件;0910-科学设备和仪器,特别是用于电子光谱、离子光谱以及气体和元素分析的设备和仪器;0910-紫外光、X-射线和电子激励源;0913-探测仪和传感器,特别是用于科学目的探测仪和传感器,尤其是用于电子光谱和气体分析以及测量设备和仪器的探测仪和传感器;0914-电气和电子控制设备和仪器,即使用基于电子、离子和光子的分光镜和显微镜方法用于材料分析的用于控制科学设备和仪器的 - 2015-11-28-2025-11-28
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