【SEER METAVIEW】商标详情
- SEER METAVIEW
- 61445708
- 已销亡
- 普通商标
- 2021-12-16
4209 , 4210 , 4214 , 4216 , 4220 , 4227 4209-技术研究,
4209-替他人研究和开发新产品,
4210-校准（测量）,
4214-设备和仪器的功能测试,
4216-工业品外观设计,
4220-云计算,
4220-互联网安全咨询,
4220-信息技术咨询服务,
4220-计 算机软件设计,
4227-地图绘制服务
4209-技术研究;4209-替他人研究和开发新产品;4210-校准（测量）;4214-设备和仪器的功能测试;4216-工业品外观设计;4220-云计算;4220-互联网安全咨询;4220-信息技术咨询服务;4220-计算机软件设计;4227-地图绘制服务 - 1800
- 2022-07-20
- 上海仙工智能科技有限公司
- 上海市上海市************
- 上海桓康知识产权代理有限公司
2023-08-31 商标异议申请 | 有退信(异议决定书)
2023-08-31 商标异议申请 | 退信信息录入(异议决定书)
2023-08-09 商标异议申请 | 裁定书发文
2023-03-31 商标异议申请 | 打印异议答辩清单
2023-03-29 商标异议申请 | 受理通知发文
2023-03-23 商标异议申请 | 打印答辩通知书
2022-10-31 商标异议申请 | 申请收文
2022-01-07 商标注册申请 | 受理通知书发文
2022-01-07 商标注册申请 | 等待受理通知书发文
2021-12-16 商标注册申请 | 申请收文
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- 已销亡
- 普通商标
- 2021-12-16
4209 , 4210 , 4214 , 4216 , 4220 , 4227 4209-技术研究,
4209-替他人研究和开发新产品,
4210-校准（测量）,
4214-设备和仪器的功能测试,
4216-工业品外观设计,
4220-云计算,
4220-互联网安全咨询,
4220-信息技术咨询服务,
4220-计算机软件设计,
4227-地图绘制服务
4209-技术研究;4209-替他人研究和开发新产品;4210-校准（测量）;4214-设备和仪器的功能测试;4216-工业品外观设计;4220-云计算;4220-互联网安全咨询;4220-信息技术咨询服务;4220-计算机软件设计;4227-地图绘制服务 - 1800
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2023-08-31 商标异议申请 | 退信信息录入(异议决定书)
2023-08-09 商标异议申请 | 裁定书发文
2023-03-31 商标异议申请 | 打印异议答辩清单
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2022-01-07 商标注册申请 | 受理通知书发文
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