【HCCL】商标详情
- HCCL
- 84753364
- 已注册
- 普通商标
- 2025-04-16
4209 , 4210 , 4220 , 4227 4209-3D光学测量技术研究,
4209-声学测量服务,
4209-技术研究,
4209-校准（测量）,
4209-质量检测,
4209-量子精密测量领域的研究,
4210-地形测量,
4210-测绘（工程）,
4220-信息技术研究,
4227-平面设计
4209-3D光学测量技术研究;4209-声学测量服务;4209-技术研究;4209-校准（测量）;4209-质量检测;4209-量子精密测量领域的研究;4210-地形测量;4210-测绘（工程）;4220-信息技术研究;4227-平面设计 - 1952
- 2025-09-20
- 1964
- 2025-12-21
- 2025-12-21-2035-12-20
- 华超测量科技（苏州）有限公司
- 江苏省苏州市************
- 苏州科唯达知识产权服务有限公司
2025-07-18 商标注册申请 | 驳回通知发文
2025-05-10 商标注册申请 | 受理通知书发文
2025-04-16 商标注册申请 | 申请收文
- HCCL
- 84753364
- 已注册
- 普通商标
- 2025-04-16
4209 , 4210 , 4220 , 4227 4209-3D光学测量技术研究,
4209-声学测量服务,
4209-技术研究,
4209-校准（测量）,
4209-质量检测,
4209-量子精密测量领域的研究,
4210-地形测量,
4210-测绘（工程）,
4220-信息技术研究,
4227-平面设计
4209-3D光学测量技术研究;4209-声学测量服务;4209-技术研究;4209-校准（测 量）;4209-质量检测;4209-量子精密测量领域的研究;4210-地形测量;4210-测绘（工程）;4220-信息技术研究;4227-平面设计 - 1952
- 2025-09-20
- 1964
- 2025-12-21
- 2025-12-21-2035-12-20
- 华超测量科技（苏州）有限公司
- 江苏省苏州市************
- 苏州科唯达知识产权服务有限公司
2025-07-18 商标注册申请 | 驳回通知发文
2025-05-10 商标注册申请 | 受理通知书发文
2025-04-16 商标注册申请 | 申请收文
