【上勘院】商标详情
- 上勘院
- 3997772
- 已注册
- 普通商标
- 2004-04-05
4210 4210-土地测量,
4210-地质勘探,
4210-地质勘测,
4210-地质研究,
4210-地质调查,
4210-校准(测量),
4210-水下勘探,
4210-测量
4210-土地测量;4210-地质勘探;4210-地质勘测;4210-地质研究;4210-地质调查;4210-校准(测量);4210-水下勘探;4210-测量 - 1045
- 2006-10-28
- 1057
- 2007-01-28
- 2017-01-28-2027-01-27
- 上海勘察设计研究院（集团）股份有限公司
- 上海市上海市************
- 上海长安商标事务所有限公司
2023-12-13 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 核准证明打印发送
2023-11-11 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2018-05-18 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 核准证明打印发送
2018-03-19 变更商标申请人/注册人名义/地址 | 申请收文
2017-01-25 商标续展 | 核准通知打印发送
2016-07-13 商标续展 | 打印受理通知书
2016-07-13 商标续展 | 等待打印受理通知书
2016-05-18 商标续展 | 申请收文
2007-02-25 商标注册申请 | 打印注册证
2004-06-03 商标注册申请 | 打印受理通知
2004-04-05 商标注册申请 | 申请收文
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4210-地质研究,
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4210-水下勘探,
4210-测量
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